賽默飛 EscaLab 250Xi X射線光電子能譜儀是一臺多功能高性能的表面分析儀器先進水平，它可以用于研究各種固體材料樣品表面（1-10nm厚度）的元素種類、化學(xué)價態(tài)以及相對含量。結(jié)合離子刻蝕技術(shù)還可以獲得元素及化學(xué)態(tài)深度分布信息足夠的實力；通過成像技術(shù)可以獲得元素及化學(xué)態(tài)的面分布信息緊迫性；利用微聚焦X射線源或電子束可以獲得微區(qū)表面信息。在金屬更適合、玻璃高效、高分子、半導(dǎo)體要素配置改革、納米材料體系、生物材料以及催化等領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用。賽默飛 EscaLab 250Xi X射線光電子能譜儀以X射線光電子能譜為主要功能帶動產業發展，還帶有俄歇電子能譜責任製、紫外光電子能譜、反射電子能量損失譜及離子散射譜等附件功能倍增效應。
主要功能特點如下：
1．  常規(guī)XPS規則製定，鑒別樣品表面的元素種類、化學(xué)價態(tài)以及相對含量優化服務策略。雙陽極XPS關規定，更適合用于不同的特殊過渡金屬元素的研究，如催化領(lǐng)域兩個角度入手。
2．  微區(qū)XPS分析（單色化XPS）建強保護，用于樣品微區(qū)（＞20μm）表面成分分析，高能量分辨的化學(xué)態(tài)分析
3．  深度剖析XPS生產效率，結(jié)合離子刻蝕技術(shù)對樣品（如薄膜等）進(jìn)行成分深度分布分析使命責任。通過角分辨XPS還可以進(jìn)行非損傷成分深度分布分析。
4．  XPS成像使用，可以對元素或化學(xué)態(tài)進(jìn)行表面面分布分析合規意識，使一些分析結(jié)果更直觀。
5．  反射電子能量損失譜REELS技術(shù)主要抓手，可實現(xiàn)氫元素的檢測機製。
6．  離子能量損失譜ISS，可實現(xiàn)樣品表面元素信息的檢測
7．  場發(fā)射俄歇AES集成應用，可實現(xiàn)樣品表面100nm尺寸下的元素信息檢測探討。可以進(jìn)行成分分析高效流通、形貌像分析及掃描俄歇像分析等調解製度。
8．  紫外光電子能譜（UPS），可以獲得樣品價帶譜信息功能，對導(dǎo)體應用的因素之一、半導(dǎo)體的能帶解決、帶隙等分析提供主要數(shù)據(jù)。還可以分析樣品逸出功等敢於監督。