熒光光譜儀XRF樣品膜 TF-425-345 Kapton膜
適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：
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更合理、Premier 樣品膜特點(diǎn)：

  有卷狀和片狀適應能力，多種規(guī)格、尺寸各方面、數(shù)量可供選擇防控；

  柔韌性強(qiáng)成效與經驗、方便、耐用堅實基礎；

  X-ray射線穿透性稍有不慎，適合各類XRF光譜儀；

 抗化學(xué)腐蝕性能等地，不溶于有機(jī)溶劑最為顯著，不污染待測(cè)樣品；

  （幾乎不含）痕量雜質(zhì)規定，特別適合于輕質(zhì)元素的*檢測(cè)環境。

、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：

日本島津shimadzu高質量、牛津儀器Oxford相對簡便、斯派克Spectro、布魯克Bruker解決方案、日本精工SII趨勢、日本電子JEOL、日本理學(xué)Rigaku上高質量、日本堀場(chǎng)Horiba一站式服務、熱電Thermo、帕納科Panalytical著力增加、尼通Niton智能化、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray處理、Jordan Valley建設、ARL、Asoma助力各行、Kevex前來體驗、Metorex、Siemens確定性、Spectrace更加廣闊、Philips、Fisons講故事。

  非常完善、XRF樣品膜目錄：

美國(guó)Premier X-ray樣品膜種類：

（1）、Hostaphan膜全面革新；

（2）作用、Kapton膜：聚酰亞胺膜，卡普頓膜行業分類；

（3）技術特點、Mylar膜：聚酯薄膜提高鍛煉，邁拉膜，麥拉膜高質量；

（4）也逐步提升、Polypropylene膜：聚丙烯膜。

CAT. NO 薄膜材料       厚度       長(zhǎng)度       數(shù)量       描述熒光光譜儀XRF樣品膜 TF-425-345 Kapton膜