面銅厚度測試儀CMI165膜厚儀
方源儀器供應(yīng)的面銅厚度測試儀CMI165膜厚儀長足發展，原裝英國牛津儀器品牌今年，美國工廠生產(chǎn)，面銅厚度測試儀CMI165膜厚儀采用微電阻原理測量覆銅板實施體系、高低溫銅箔組建、PCB銅箔、蝕刻或整平后的銅箔效果較好、電鍍銅后的面銅厚度重要的意義。
面銅厚度測試儀CMI165膜厚儀探頭：
牛津儀器磚利檢測探頭SRP-T1
SRP-T1探針可由客戶自行替換，替換后無需再校準(zhǔn)即可使用
備用的SRP-T1探頭減少了用戶設(shè)備的停工期
探針的照明功能有助于線型銅箔檢測時的準(zhǔn)確定位
面銅厚度測試儀CMI165膜厚儀規(guī)格詳細(xì)參數(shù)：
利用微電阻原理通過四針式探頭進行銅厚測量等多個領域，符合EN 14571測試標(biāo)準(zhǔn)
厚度測量范圍：
化學(xué)銅：(0.25-12.7)μm,(0.01-0.5) mils
電鍍銅：(2.0-254)μm, (0.1-10) mils
儀器再現(xiàn)性: 0.08 μm at 20 μm (0.003 mils at 0.79 mils)
強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析功能再獲，包括數(shù)據(jù)記錄平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差和上下限提醒功能應用擴展。
數(shù)據(jù)顯示單位可選擇mils體驗區、μm或oz
儀器的操作界面有英文和簡體中文兩種語言供選擇
儀器無需特殊規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)片，同樣可實現(xiàn)
蝕刻后的線型銅箔的厚度測量進一步意見，可測線
寬范圍低至204um (8 mils)
儀器可以儲存9690條檢測結(jié)果(測試日
期時間可自行設(shè)定)
測試數(shù)據(jù)通過USB2.0實現(xiàn)高速傳輸增幅最大，也
可保存為excel格式文件
儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn)
客戶可根據(jù)不同應(yīng)用靈活設(shè)置儀器
用戶可選擇固定或連續(xù)測量模式
儀器使用普通AA電池供電
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