新版 EM TIC 3X 恪守我們的格言：與用戶合作表示，使用戶受益”全面闡釋，以注重實用性的方式將性能和靈活性理想融合。
的 EM TIC 3X 切割速度翻倍競爭力所在，根據(jù)您的應(yīng)用需求提供五種不同的載物臺供您選擇引人註目，實用性得到進一步提升。
可復(fù)制的結(jié)果
Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀可制備橫切面和拋光表面溝通機製，用于掃描電子顯微鏡 (SEM)好宣講、微觀結(jié)構(gòu)分析 (EDS、WDS領先水平、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。
使用 Leica EM TIX 3X設計能力，您幾乎可以在室溫或冷凍條件下品牌，對任何材料實現(xiàn)高品質(zhì)的表面處理，盡可能顯示樣品近自然狀態(tài)下的內(nèi)部結(jié)構(gòu)更為一致。
帶來的便利等形式！
效率
對于離子束研磨機的效率來說，真正重要的是同時具備出色的品質(zhì)結(jié)果和高產(chǎn)量研究與應用。與前代版本相比飛躍，全新版本不僅切割速度提高了一倍，其*的三離子束系統(tǒng)還優(yōu)化了制備質(zhì)量，并縮短了工作時間重要部署。一次可處理樣品多達 3 個具體而言， 并可在同一個載物臺上進行橫切和拋光。
工作流程解決方案可安全的過程中、高效地將樣品傳輸至后續(xù)的制備儀器或分析系統(tǒng)發展契機。
靈活的系統(tǒng) — 隨時滿足您的需求
憑借可靈活選擇的載物臺，Leica EM TIC 3X 不僅是進行高產(chǎn)量處理的理想設(shè)備促進進步，還適用于委托檢測的實驗室發力。根據(jù)您的需求，可選擇以下可互換的載物臺對 Leica EM TIC 3X 進行個性化配置：
- 標(biāo)準(zhǔn)載物臺
- 多樣品載物臺
- 旋轉(zhuǎn)載物臺
- 冷卻載物臺或
- 真空冷凍傳輸對接臺
用于制備標(biāo)準(zhǔn)樣品迎來新的篇章、高產(chǎn)量處理共創美好，以及在低溫條件下制備對高溫異常敏感的樣品，例如聚合物薄弱點、橡膠或生物材料覆蓋範圍。
環(huán)境控制型工作流程解決方案
憑借與 Leica EM TIC 3X 配套的 VCT 對接臺接口，可為易受環(huán)境影響的樣品和/或低溫樣品提供出色的刨平工作流程積極性，此類樣品包括
- 生物材料奮勇向前，
- 地質(zhì)材料
- 或工業(yè)材料。
隨后實施體系，這些樣品會在惰性氣體/真空/冷凍條件下組建，被傳輸至我們的鍍膜系統(tǒng) EM ACE600 或 EM ACE900 和/或 SEM 系統(tǒng)。
標(biāo)準(zhǔn)的工作流程解決方案 — 與 Leica EM TXP 產(chǎn)生協(xié)同效應(yīng)
在使用 Leica EM TIC 3X 之前效果較好，通常需要進行機械準(zhǔn)備工作重要的意義，以便盡可能接近感興趣區(qū)域。Leica EM TXP 是一種*的標(biāo)靶面拋光系統(tǒng)開拓創新，開發(fā)用于樣品的切割和拋光持續發展，為 Leica EM TIC 3X 等儀器進行后續(xù)技術(shù)處理做好充分準(zhǔn)備
Leica EM TXP 經(jīng)專業(yè)設(shè)計，利用鋸切促進善治、銑削擴大、研磨和拋光技術(shù)對樣品進行預(yù)制。 對于需要精準(zhǔn)定位以及難以制備的挑戰(zhàn)性樣品發揮效力，它能提供出色的結(jié)果進行探討，令處理變得輕松簡單。
