產(chǎn)品介紹：HF5000是日立的200kV球差校正場發(fā)射透射電鏡足夠的實力，采用冷場發(fā)射電子槍和全自動(dòng)化的球差校正技術(shù)，在保證超高分辨率的同時(shí)大大簡化操作結構，實(shí)現(xiàn)高分辨觀察與易用性的完美結(jié)合更適合。HF5000同樣

主要特點(diǎn)：

日立研發(fā)的全自動(dòng)STEM球差校正器

高穩(wěn)定、高亮度的冷場發(fā)射電子槍

TEM規劃、STEM擴大公共數據、SEM三位一體

大面積、大固體角的無窗能譜儀

全新設(shè)計(jì)的鏡筒和高壓系統(tǒng)

全新設(shè)計(jì)的保護(hù)罩和熒光屏相機(jī)

高穩(wěn)定性側(cè)插樣品桿

兼容日立的特殊樣品桿和FIB系統(tǒng)

應(yīng)用領(lǐng)域：

HF5000作為一款球差校正冷場發(fā)射透射電鏡新格局，其分辨率達(dá)到了亞埃級(jí)，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的超細(xì)微觀結(jié)構(gòu)的觀察和分析安全鏈，適用于金屬顯示、陶瓷、半導(dǎo)體真正做到、納米材料等的觀察科普活動。同時(shí)，HF5000*的TEM強化意識、STEM狀況、SEM三位一體功能不僅可以實(shí)現(xiàn)對(duì)材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的研究，也可以獲得材料表面的信息機製。原子級(jí)分辨率的二次電子探測(cè)器可以彌補(bǔ)TEM和STEM無法觀察樣品表面的缺陷全過程，同時(shí)相比普通的SEM又具有更高的分辨率，可以滿足樣品表面高分辨形貌和結(jié)構(gòu)觀察的需求探討，與TEM和STEM形成互補(bǔ)不負眾望。全自動(dòng)化的球差校正過程又大大簡化了球差校正透射電鏡的使用難度高效流通，提高了觀察效率，尤其適合測(cè)試平臺(tái)和科研中心等用戶密度增加。