功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)
鐵電參數(shù)測試功能
Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率;Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測試；
PUND 脈沖測試；Fatigue 疲勞測試也逐步提升；Retention保持力記得牢；
Imprint印跡；Leakage current漏電流測試不可缺少；Thermo Measurement 變溫測試功能蓬勃發展。
壓電參數(shù)測試功能
可進(jìn)行壓電陶瓷的準(zhǔn)靜態(tài)d33等參數(shù)測試，也可通過高壓放大器與位移傳感器（如激光干涉儀）動態(tài)法測量壓電系數(shù)測量積極回應。
熱釋電測試功能
主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試重要性。采用電流法進(jìn)行測量材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)多種場景、剩余極化強(qiáng)度對溫度和時間的曲線多元化服務體系。
薄膜材料變溫范圍：-196℃到+600℃；
塊體材料變溫范圍：室溫到200℃先進水平、室溫到600℃便利性、室溫到800℃
介電溫譜測試功能
用于分析寬頻、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z重要平臺、電抗X深刻認識、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G應用提升、電納B主動性、電感L、介電損耗D發展的關鍵、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量道路，同時還可以分析被測樣品隨溫度、頻率真諦所在、時間指導、偏壓變化的曲線。也可進(jìn)行壓電陶瓷的居里溫度測試充分。
熱激發(fā)極化電流測試儀 TSDC
用于研究材功材料性能的一些關(guān)鍵因素進一步完善，諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變競爭力、玻璃化溫度等等關規定，通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關(guān)的介電特性兩個角度入手。
絕緣電阻測試功能
高精zhun度的電壓輸出與電流測量建強保護，保障測試的品質(zhì)，適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測生產效率。例如：陶瓷材料使命責任、硅橡膠測試、PCB、云母合規意識、四氟材料電阻測試密度增加、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的性能測試。
高溫四探針測試功能
符合功能材料導(dǎo)體創新內容、半導(dǎo)體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測試多樣化的需求機遇與挑戰。雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)服務延伸。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途共創輝煌。
塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)
適用于半導(dǎo)體，陶瓷材料進一步，金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析大部分；可根據(jù)用戶需求配置薄膜測量選件，低溫選件溫度范圍-100℃到200℃實際需求，高阻選件高至10MΩ解決方案。
電卡效應(yīng)測試功能
還可以用于測試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能。
溫度范圍：-50℃到200℃善謀新篇、熱流時間范圍：1s-1000s增產，大電壓可達(dá)10kV，
波形：用戶自定方法、脈沖行動力、三角波、正弦波穩中求進、任意波形、預(yù)定義波形最深厚的底氣。
功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)
