步入式環(huán)境實(shí)驗(yàn)室可同時(shí)放置大量的待測(cè)物品進(jìn)行可靠度試驗(yàn)戰略布局，以縮短單一產(chǎn)品的總試驗(yàn)時(shí)間，或進(jìn)行產(chǎn)品的溫濕度應(yīng)力篩選（ESS）求索，及需要活動(dòng)空間較大的動(dòng)態(tài)試驗(yàn)還有體積較大的產(chǎn)品皆適用于此設(shè)備讓人糾結。

品牌：久濱
型號(hào)：步入式
名稱：步入式環(huán)境實(shí)驗(yàn)室
一、適用范圍：
　　步入式環(huán)境實(shí)驗(yàn)室可同時(shí)放置大量的待測(cè)物品進(jìn)行可靠度試驗(yàn)穩定發展，以縮短單一產(chǎn)品的總試驗(yàn)時(shí)間基石之一，或進(jìn)行產(chǎn)品的溫濕度應(yīng)力篩選（ESS），及需要活動(dòng)空間較大的動(dòng)態(tài)試驗(yàn)還有體積較大的產(chǎn)品皆適用于此設(shè)備增持能力。
二共同努力、執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)：
GB2423.1-89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)視程》 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GB2423.4-93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法
GB/T2423.35-1986散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫、振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法
GB/T2423.36-1986散熱和非散熱樣品的高溫追求卓越、振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法
GB/T2423.102-2008和JJG190-97《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 KG：高溫試驗(yàn)方法逐漸完善、低溫試驗(yàn)方法參與能力、濕熱試驗(yàn)方法振動(dòng)試驗(yàn)方法》