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InliSEM EPAS 智能掃描電鏡環(huán)境顆粒物分析系統(tǒng)

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自動前景、快速進一步意見、功能強大的環(huán)境顆粒物表征分析

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自動、快速共享應用、功能強大的環(huán)境顆粒物表征分析

RJ Lee Group 簡介:

       RJ Lee Group以行業(yè)的身份服務(wù)于環(huán)境科學(xué)生產能力、材料表征、法醫(yī)工程示範推廣、信息管理等領(lǐng)域堅持好,并提供創(chuàng)新解決方案,以科學(xué)專長大幅增加、儀器特性、技術(shù)、合作精神激發(fā)研究并解決復(fù)雜問題交流研討。除了實驗室和咨詢業(yè)務(wù)更加完善,RJ Lee Group擁有長達(dá)40年的持續(xù)研發(fā)、使用掃描電鏡經(jīng)驗建設應用,形成一套準(zhǔn)確支撐作用、可靠、直觀的InliSEM軟件系統(tǒng)動力,其經(jīng)驗的廣度與深度無人匹敵同時,InliSEM中凝聚了大量的計算機控制掃描電鏡系統(tǒng)的專業(yè)知識和經(jīng)驗。

系統(tǒng)概要:

       RJLee實驗室(RJ Lee Group)研發(fā)的智能掃描電鏡環(huán)境顆粒物分析系統(tǒng)(InliSEM EPAS自然條件,Enviromental Particle Analysis System)將智能控制技術(shù)和專業(yè)數(shù)據(jù)分析計算方法與掃描電鏡-能譜儀(SEM-EDS)相結(jié)合設計標準,可以自動開展、準(zhǔn)確、快速地對環(huán)境樣品中的大批量單顆粒進(jìn)行表征分析發揮重要帶動作用,為用戶提供豐富的專業(yè)軟件工具意向,具備對數(shù)據(jù)進(jìn)行可視化分析、挖掘與管理的強大功能文化價值。 

       InliSEM EPAS系統(tǒng)的*技術(shù)優(yōu)勢在于兼具分析廣度和深度于一體形式,具備每小時分析數(shù)萬個單顆粒的快速分析時間效率,完整獲取和記錄每個顆粒物的幾何形狀不斷完善、能譜以及數(shù)字影像信息數字化,據(jù)此,可以較高的統(tǒng)計置信度獲得環(huán)境樣品的整體特征基礎上,并深入探究每個單顆粒的細(xì)節(jié)特征各領域。

系統(tǒng)應(yīng)用:

* PM10、PM2.5保持競爭優勢、PM10-2.5進行培訓、超細(xì)顆粒物的表征研究;

* 揚塵研究不容忽視;

* 環(huán)境顆粒物中金屬的識別組織了;

* 環(huán)境顆粒物中飛灰的識別;

* 碳顆粒物(煤煙說服力、生物搶抓機遇、煤)形態(tài)研究;

* 顆粒物長距離傳輸研究表示;

* 土壤中金屬的生物可利用率評估全面闡釋;

* 點源和無組織面源排放特征的研究;

* 顆粒物源解析(受體模型)研究競爭力所在;

* UNC被動采樣器樣品的分析引人註目;


系統(tǒng)特點:

* 為環(huán)境顆粒物分析量身定做的軟件包;

* *的顆粒物分析功能溝通機製,快速獲取大量單顆粒物的表征分析數(shù)據(jù)和統(tǒng)計分析結(jié)果好宣講;

* 智能化的掃描電鏡-能譜儀分析操作:

> 一鍵選擇設(shè)置分析參數(shù):亮度/對比度、聚焦領先水平、閾值等雙向互動,無需用戶干預(yù);

> 實時監(jiān)測設計能力、調(diào)準(zhǔn)儀器品牌,實現(xiàn)掃描電鏡和能譜儀的全自動化分析運行;

> 自動存儲每個顆粒物的圖像更為一致、光譜等形式、測量數(shù)據(jù)技術的開發;

> 對X射線檢測器進(jìn)行自動校準(zhǔn)和性能檢測;

> 采用圖像分析技術(shù)進(jìn)行顆粒物快速檢測和精確測量飛躍;

> 采用統(tǒng)計算法進(jìn)行瞬時元素識別和定量更高效;

> 顆粒物分析數(shù)據(jù)的實時分類、排序重要部署;


* 遠(yuǎn)程控制和遠(yuǎn)程分析操作影響;

* 無縫控制和遠(yuǎn)程再定位特定的顆粒以便進(jìn)一步的詳盡分析;

* 利用InliSEM工作臺對顆粒物分析數(shù)據(jù)進(jìn)行匯總處理/可視化“后分析”的過程中;

> 進(jìn)行“離線”電子顯微分析;

> 對已存儲的顆粒物圖像/光譜數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計處理和顯示圖表廣泛關註;

> 在樣品總覽圖像上促進進步,以交互式操作方式顯示顆粒物的全部分析數(shù)據(jù);


系統(tǒng)組成:

      勘察者——在線數(shù)據(jù)/圖像采集與分析模塊優勢領先。其功能是實現(xiàn)對掃描電鏡(SEM)和X射線能譜儀(EDS)的全自動控制迎來新的篇章,使用智能算法快速大面積掃描樣品區(qū)域,并精細(xì)測定每個顆粒物的邊界推動並實現。在對顆粒物幾何尺寸進(jìn)行精確測量的基礎(chǔ)上薄弱點,“勘察者”收集和存儲每個顆粒物的高倍率數(shù)字影像,依據(jù)能譜分析數(shù)據(jù)計算單顆粒的化學(xué)元素組成優化程度,并將原始能譜數(shù)據(jù)和處理結(jié)果存儲到數(shù)據(jù)庫中積極性。“勘察者”的智能算法能夠保證的數(shù)據(jù)采集時間和分辨率不斷豐富,以滿足精確測量和快速分析的要求實施體系。“勘察者”有兩種操作模式:“專家模式”和“一鍵模式”各有優勢,前者允許專業(yè)用戶和微調(diào)數(shù)據(jù)采集的各參數(shù)選項效果較好,后者則為用戶提供一個標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)設(shè)置方案,大限度地簡化了用戶操作持續。

      工作臺——數(shù)據(jù)匯總處理及可視化“后分析”模塊開拓創新。在工作臺上,可以將“勘察者”采集的原始數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為用戶需要的分析結(jié)果必然趨勢,并通過豐富的表格促進善治、圖形、影像展示出來的方法,以更好地解釋和理解數(shù)據(jù)實事求是。平臺提供的工具包括:表單化的表格——展示每個單顆粒的所有信息;總覽圖——將所有的圖像落到實處、幾何和能譜數(shù)據(jù)等融合拼接結(jié)合為單一的多層的蒙太奇整體樣品視圖服務水平;系列化的圖形工具——生成各種兩相最新、三相圖及數(shù)據(jù)表;查詢和分類——便于將顆粒物分類處理方法,用于研究和制作報告重要作用。“工作臺”可安裝于任何可以訪問數(shù)據(jù)庫的電腦上習慣,用戶可通過網(wǎng)絡(luò)遠(yuǎn)程訪問和處理樣品分析數(shù)據(jù)充足。“工作臺”的功能之強大的積極性,就如同在筆記本電腦上安裝了一個掃描電鏡-能譜儀系統(tǒng)綠色化發展。

      數(shù)據(jù)庫/圖像存儲——存儲來自“勘察者”所有數(shù)據(jù)的大腦。將強大的關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)庫與網(wǎng)絡(luò)存儲相結(jié)合不久前,任何安裝有“工作臺”的計算機都可以在聯(lián)網(wǎng)狀態(tài)下調(diào)用數(shù)據(jù)庫中的全部數(shù)據(jù)和圖像用上了,InliSEM數(shù)據(jù)存儲方法靈活而強大-支持多個數(shù)據(jù)庫,并且該結(jié)構(gòu)可容納幾乎無*的數(shù)據(jù)能力建設,這種方法還有助于高效的數(shù)據(jù)分級備份關註。


InliSEM EPAS系統(tǒng)的樣品分析流程:

* 掃描電鏡獲取的灰度影像用于檢出顆粒物;

* 生成每個粒子的單顆粒影像無障礙;

* 對每個單顆粒進(jìn)行45次箱形測量連日來,得到90個直徑數(shù)據(jù);

* 進(jìn)行能譜(EDS)測量獲得單顆粒的元素組成認為;

* 完成分析操作后系統,在“工作臺”上對數(shù)據(jù)進(jìn)行解析處理;


樣品采集【UNC被動采樣器】

     InliSEM EPAS系統(tǒng)的樣品采集采用UNC被動采樣器進(jìn)行重要意義,該采樣器采用北卡羅來納大學(xué)技術(shù)形式,主要以重力沉降的被動采樣方式收集PM2.5、PM10有所應、PM10-2.5 樣品足了準備。其*的設(shè)計非常適合用于電鏡分析。

* 技術(shù)

* 與FRM采樣器具有非常好的一致性

* 廣泛應(yīng)用* 


服務(wù)領(lǐng)域:

* 環(huán)境空氣質(zhì)量著力提升;

* 環(huán)境健康和安全深刻內涵;

* 顆粒物表征;

* 光學(xué)顯微鏡融合;

* 掃描電鏡(SEM)深入闡釋;

* 透射電鏡(TEM/STEM);

* 拉曼光譜完成的事情;

* FTIR物聯與互聯;

* 冶金行業(yè);

* *的材料學(xué)和納米技術(shù)改造層面;

* 建筑材料供給;

* 生物技術(shù)/醫(yī)藥優勢與挑戰;

* 刑偵/法醫(yī);


實驗室實力:

* 透射電鏡(TEM)/掃描電鏡(SEM)解決方案;

* 光學(xué)顯微鏡趨勢;

* 傅里葉紅外線光譜分析儀(FTIR);

* 拉曼光譜儀上高質量;

* 氣相色譜(GC)/氣相色譜質(zhì)譜連用(GCMS)一站式服務;

* 原子吸收光譜;

* 高效液相色譜(HPLC)深入交流;

* 電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS)引領作用;

* 離子色譜(IC);

* 熱重分析儀(TGA)臺上與臺下;

* OC/EC分析儀效率和安;

* X射線衍射儀(XRD);

* X射線熒光光譜儀(XRF)品牌;


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