概述：

隨著科學(xué)技術(shù)的日益進(jìn)步和發(fā)展優化上下，在國(guó)民經(jīng)濟(jì)的許多部門(mén)能力建設，如能源、動(dòng)力生產體系、機(jī)械服務、醫(yī)藥、化工能力和水平、輕工覆蓋、冶金、建材等行業(yè)中都出現(xiàn)了越來(lái)越多的細(xì)微顆粒密切相關(guān)的技術(shù)問(wèn)題有待解決研究，顆粒粒徑大小的測(cè)量是其中基本也是重要的一個(gè)方面高效。許多情況下，顆粒粒徑大小不僅直接影響到產(chǎn)品的性能與質(zhì)量提高，而且對(duì)工藝過(guò)程的優(yōu)化機構、能源消耗的降低、環(huán)境污染的減少等都有重大的關(guān)聯(lián)空白區。近年來(lái)協調機製，與*、國(guó)防工業(yè)形勢、軍事科學(xué)等密切相關(guān)的各種新型顆粒材料實踐者，特別是超細(xì)納米顆粒的問(wèn)世和利用，給顆粒粒徑的測(cè)量提出了新的和更高的要求約定管轄，不但要求快速數據、自動(dòng)化數(shù)據(jù)處理、而且也要求提供可靠的更豐富的數(shù)據(jù)和更有用的信息業務指導，以滿(mǎn)足科研領(lǐng)域和工業(yè)質(zhì)量控制方面應(yīng)用的需要改進措施。TS-W系列激光粒度分析儀正是為了滿(mǎn)足用戶(hù)上述新要求而精心研制開(kāi)發(fā)的一代激光粒度分析儀就此掀開。該儀器集*激光技術(shù)長足發展、半導(dǎo)體技術(shù)今年、光電技術(shù)、微電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的應(yīng)用結構不合理，綜合了光動手能力、機(jī)、電意見征詢、計(jì)算機(jī)于一體提升，以光散射理論為基礎(chǔ)的顆粒粒徑測(cè)量技術(shù)突出的優(yōu)點(diǎn)逐步取代了一些傳統(tǒng)的常規(guī)測(cè)量方法，必將成為一代新穎的顆粒粒徑測(cè)量?jī)x器的必然要求。并且在科研領(lǐng)域和工業(yè)質(zhì)量控制的粒度分布分析中發(fā)揮著越來(lái)越大的作用研究成果。

TS-W系列激光粒度分析儀的高品質(zhì)和所測(cè)樣品的廣泛性使得它在實(shí)驗(yàn)室的實(shí)驗(yàn)研究和工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量控制等諸多領(lǐng)域中得到了廣泛的應(yīng)用。例如：材料完善好、化工大面積、制藥、精細(xì)陶瓷問題分析、建材培養、石油、電力更加完善、冶金形式、食品、化妝品支撐作用、高分子日漸深入、油漆、涂料綜合措施、碳黑可靠保障、高嶺土、氧化物建言直達、碳酸鹽多種、金屬粉末、耐火材料充分發揮、添加劑等以顆粒物作為生產(chǎn)原材料發展成就、產(chǎn)品、中間體等重要方式。

技術(shù)特點(diǎn)：

1. *的半導(dǎo)體制冷恒溫控制綠色固體激光器做光源開展面對面，波長(zhǎng)短、體積小非常重要、工作穩(wěn)定進一步提升、壽命長(zhǎng)空間廣闊；

2. *設(shè)計(jì)大直徑光靶，保證測(cè)量范圍大改革創新，0.1-1000微米全測(cè)量范圍內(nèi)不需要更換鏡頭或移動(dòng)樣品池知識和技能；

3. 集多年研究之成果，米氏理論的完美應(yīng)用新模式；

4. *反演算法實現，保證顆粒測(cè)量的準(zhǔn)確；

5. USB接口組織了，儀器與計(jì)算機(jī)一體化服務體系，內(nèi)嵌10.8寸工業(yè)級(jí)別的電腦，可連接鍵盤(pán)搶抓機遇、鼠標(biāo)分析、U盤(pán)

6. 測(cè)量時(shí)循環(huán)樣品池或固定樣品池可選，兩者可根據(jù)需要換用全面闡釋；

7. 樣品池模塊化設(shè)計(jì)非常激烈，更換模塊可實(shí)現(xiàn)不同的測(cè)試模式；循環(huán)樣品池內(nèi)置超聲分散裝置集中展示，可有效分散團(tuán)聚顆粒

8. 樣品測(cè)量可*自動(dòng)化實力增強，除添加樣品外，只要連接好蒸餾水進(jìn)水管和排水管共享，進(jìn)水信息化、測(cè)量、排水生動、清洗新型儲能，啟動(dòng)超聲分散裝置等操作可*自動(dòng)進(jìn)行，同時(shí)也提供手動(dòng)測(cè)量菜單新品技；

9. 軟件個(gè)性化範圍，提供測(cè)量向?qū)У缺姸喙δ埽奖阌脩?hù)操作紮實做；

10. 測(cè)量結(jié)果輸出數(shù)據(jù)豐富空間廣闊，保存在數(shù)據(jù)庫(kù)中，能用任意參數(shù)提供深度撮合服務，如操作者姓名服務品質，樣品名，日期組成部分，時(shí)間等進(jìn)行調(diào)用分析影響，與其他軟件實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)共享；

11. 儀器造型美觀，體積小重量輕發展契機；

12. 測(cè)量精度高廣泛關註，重復(fù)性好，測(cè)量時(shí)間短發力；

13. 軟件提供眾多物質(zhì)折射率供用戶(hù)選擇優勢領先，滿(mǎn)足用戶(hù)查找被測(cè)顆粒折射率要求；

14. 考慮到測(cè)試結(jié)果的保密要求持續創新，只有*操作者才能進(jìn)入相應(yīng)數(shù)據(jù)庫(kù)讀取數(shù)據(jù)和處理改善；

15. 本儀器符合但并不局限于以下標(biāo)準(zhǔn)：

ISO 13320-2009 G/BT19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法

技術(shù)參數(shù)：

1. 理論依據(jù):Mie散射理論

2. 粒徑測(cè)量范圍:0.1-400um

3. 光源:半導(dǎo)體制冷恒溫控制紅光固體激光光源空白區，波長(zhǎng)635nm

4. 重復(fù)性誤差:<1%（標(biāo)準(zhǔn)D50偏差）

5. 測(cè)量誤差:<1%（標(biāo)準(zhǔn)D50偏差協調機製，用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)顆粒檢驗(yàn)）

6. 檢測(cè)器:32或48或64或更高通道硅光電二極管

7. 樣品池:滴樣法樣品池10mL；循環(huán)樣品池（500mL內(nèi)置超聲分散形勢、攪拌裝置）

8. 測(cè)量分析時(shí)間：正常條件下小于1分鐘（從開(kāi)始測(cè)量到顯示分析結(jié)果）

9. 輸出內(nèi)容：體積實踐者、數(shù)量微分分布和累積分布表和圖表；多種統(tǒng)計(jì)平均直徑約定管轄；操作者信息數據；實(shí)驗(yàn)樣品信息、分散介質(zhì)信息等大幅拓展。

10. 顯示方式：內(nèi)嵌10.8寸工業(yè)級(jí)別的電腦發行速度，可連接鍵盤(pán)、鼠標(biāo)與時俱進、U盤(pán)

11. 電腦系統(tǒng)：WIN 10系統(tǒng)性能，30GB硬盤(pán)容量、2GB系統(tǒng)內(nèi)存

12. 電源：220V綜合運用，50 Hz

工作條件：

l 1.室內(nèi)溫度：15℃-35℃

l 2.相對(duì)溫度：不大于85%（無(wú)冷凝）

l 3.建議用交流穩(wěn)壓電源1KV供給，無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)干擾。

l 4.由于在微米級(jí)的范圍內(nèi)的測(cè)量實事求是，儀器應(yīng)放在堅(jiān)固可靠進行探討、無(wú)振動(dòng)的工作臺(tái)上，并且在少塵條件下進(jìn)行測(cè)量服務水平。

l 5.儀器不應(yīng)放在太陽(yáng)直射最新、風(fēng)大或溫度變化大的場(chǎng)所。

l 6.設(shè)備必須接地處理方法，保證安全和高精度重要作用。