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面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 沈陽(yáng)科晶自動(dòng)化設(shè)備有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間 2020/10/27 1:29:22
訪問(wèn)次數(shù) 315

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促銷詳情

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特價(jià)說(shuō)明：

促銷詳細(xì)：

2020年01月08日至 2020年02月08日

特價(jià)促銷

模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴度生產創效；傳統(tǒng)的塑膠模具開(kāi)模后產(chǎn)品與澆口相連結構，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開(kāi)模前優化上下，消除后續(xù)工序能力建設，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴生產體系。

詳細(xì)信息在線詢價(jià)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：TFMS-LD反射光譜薄膜測(cè)厚儀是一款利用反射光譜測(cè)試薄膜厚度的儀器建立和完善，可快速精確地測(cè)量透明或半透明薄膜的厚度而不損傷樣品表面的薄膜，是一款無(wú)損測(cè)厚儀參與水平，其測(cè)量膜厚范圍為15nm-50um大型，測(cè)量膜厚范圍廣，尤其適用于超薄薄膜厚度的測(cè)量聯動。儀器所發(fā)出測(cè)試光的波長(zhǎng)范圍為400nm-1100nm增持能力，波長(zhǎng)范圍廣，因此行業內卷，測(cè)試薄膜厚度的范圍廣追求卓越。TFMS-LD反射光譜薄膜測(cè)厚儀測(cè)試系統(tǒng)的理論基礎(chǔ)為鏡面光纖反射探頭，該儀器尺寸小巧可節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間參與能力，操作方便合理需求，讀數(shù)直觀，方便于在實(shí)驗(yàn)室中擺放和使用充分發揮。

產(chǎn)品名稱	TFMS-LD反射光譜薄膜測(cè)厚儀
產(chǎn)品型號(hào)	TFMS-LD
測(cè)量膜厚范圍	15nm-50um
光譜波長(zhǎng)	400 nm - 1100 nm
主要測(cè)量透明或半透明薄膜厚度	氧化物氮化物光刻膠半導(dǎo)體（硅高質量，單晶硅，多晶硅等）半導(dǎo)體化合物（ALGaAs,InGaAs,CdTe,CIGS等）硬涂層（碳化硅選擇適用，類金剛石炭）聚合物涂層(聚對(duì)二甲苯管理，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺) 金屬膜
特點(diǎn)	測(cè)量和數(shù)據(jù)分析同時(shí)進(jìn)行業務指導，可測(cè)量單層膜改進措施，多層膜就此掀開，無(wú)基底和非均勻膜包含了500多種材料的光學(xué)常數(shù)，新材料參數(shù)也可很容易地添加今年，支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等體積較小穩步前行，方便擺放和操作可測(cè)量薄膜厚度，材料光學(xué)常數(shù)和表面粗糙度使用電腦操作動手能力，界面中點(diǎn)擊逐步顯現，即可進(jìn)行測(cè)量和分析
精度	0.01nm或0.01%
準(zhǔn)確度	0.2%或1nm
穩(wěn)定性	0.02nm或0.02%
光斑尺寸	標(biāo)準(zhǔn)3mm,可以小至3um
要求樣品大小	大于1mm
分光儀/檢測(cè)器	400 - 1100 nm 波長(zhǎng)范圍光譜分辨率: < 1 nm 電源 100 -250 VAC, 50/60 Hz 20W
光源	5W的鎢鹵素?zé)?/span> 色溫：2800K 使用壽命:1000小時(shí)
反射探針	光學(xué)纖維探針，400um纖維芯配有分光儀和光源支架
載樣臺(tái)	測(cè)量時(shí)用于放置測(cè)量的樣品
通訊接口	USB接口引領，方便與電腦對(duì)接
TFCompanion軟件	強(qiáng)大的數(shù)據(jù)庫(kù)包含兩500多種材料的光學(xué)常數(shù)（n：折射率自動化裝置，K：消失系數(shù)）誤差分析和模擬系統(tǒng)，保證在不同環(huán)境下對(duì)樣品測(cè)量的準(zhǔn)確性可分析簡(jiǎn)單和復(fù)雜的膜系
設(shè)備尺寸	200x250x100mm
重量	4.5kg