自動清潔度顆粒檢測儀是精密設(shè)計的零部件清潔度分析系統(tǒng)傳遞,對過濾紙的殘留粒子進行檢測融合,重要的是能對工件的清潔程度進行可靠和再現(xiàn)性的評估。
本清潔度分析系統(tǒng)采用10倍像素解決方案規模最大,確保分析精度穩中求進。
SZX7奧林巴斯自動清潔度顆粒檢測儀器會自動將顆粒分為以下三類:
金屬顆粒:通常是關(guān)注的,并且是關(guān)鍵的顆粒最深厚的底氣。
非金屬顆粒協同控製,不含纖維:這些顆粒和金屬顆粒一樣是關(guān)鍵性污染物顆粒。
纖維:這些顆粒在測試的準備和操作過程中是無法避免的品質。因此利用好,即使有時候纖 維是濾膜上大的顆粒,其關(guān)注度也是相對不高解決問題。
將顆粒預(yù)分為三類,可減少手動操作的工作量
通過偏振鏡機構(gòu)對濾膜進行二次掃描系列,并實現(xiàn)對濾膜上金屬和非金屬顆粒 的統(tǒng)計和鑒別。 針對塑料相互配合、玻纖等同樣會產(chǎn)生反射的物體慢體驗,系統(tǒng)會自動將其與金屬顆粒區(qū)分開,此方法有效的回避了被誤判為金屬顆粒的風(fēng)險智能化。
備注:
本設(shè)備設(shè)計參考理論依據(jù)
1.ISO 16232-2018/VDA19對顆粒屬性定義
2科技實力、ISO 16232-2018/VDA19分辨率定義
3、根據(jù)VDA 19.1理論:弱化/避開小顆粒測試是近來的發(fā)展趨勢建設,只有少數(shù)特殊案例在此基礎上,其部件間隙容差非常小,會要求分析長度在5~50μm的顆粒極致用戶體驗,在實際常規(guī)案例中提供有力支撐,長度在5~50μm的顆粒是沒有相關(guān)性的,而且對這么小的顆粒進行分析工作量十分巨大建議,甚至?xí)蔀橐环N工作阻礙品率。因此,現(xiàn)在已將大于50μm的顆粒分析作為標準要求不斷發展。