李生（131**1281**1231）標準型冷熱沖擊試驗箱適用于電子元器件的性能測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選試驗等示範，同時通過此裝備試驗應用前景，可提高產(chǎn)品的可靠性和進行產(chǎn)品的質量控制。

《所發(fā)布的各款試驗設備價錢僅為象征性的展示,不能作為實際價,實際價錢以歐可儀器業(yè)務員根據(jù)客戶的要求所做的報價單為準》李生131**1281**1231

　　標準型冷熱沖擊試驗箱規(guī)格與技術參數(shù)：

　　型號OK-TS-80

　　內(nèi)部尺寸(cm)：40×30×35

　　外部尺寸(cm)：162×200×142

　　測試區(qū)溫度范圍：高溫：+60℃～+150℃

　　低溫：-10℃～-65℃(A：-45℃B：-55℃C：-65℃)

　　(高溫區(qū))升溫時間：RT—200℃約需45min

　　(低溫區(qū))降溫時間：RT—-70℃約需90min

　　回復時間：5min內(nèi)

　　溫度穩(wěn)定度：±0.2℃

　　保溫材質：耐高溫運行好、高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣材料

　　系統(tǒng)：P.I.D+S.S.R+微電腦平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)

　　冷凍系統(tǒng)：法國泰康全封閉風冷式復疊機/德國谷輪水冷式機組

　　保護裝置：無熔絲開關首次、壓縮機高低壓保護開關、冷媒高壓保護開關部署安排、故障警告系統(tǒng)搖籃、電子警報器

　　配件：上下可調(diào)隔層兩片

　　電源;3Φ380VAC±10%50/60Hz&3Φ380V/415VAC±10%50Hz

　　冷熱循環(huán)試驗箱為待測品靜置之冷熱交替沖擊方式，廣泛使用于電子零組件測試推廣開來，半導體推動，電子線路板，金屬化學資源配置，材料等測試設備信息。試驗箱下部為低溫蓄冷區(qū)，上部為高溫蓄熱區(qū)大力發展，試件(待測品)放置在試驗箱中部豐富內涵，高溫沖擊時，上風門打開產能提升，形成高溫內(nèi)循環(huán)發展。低溫沖擊時，上風門關閉總之，下風門打開面向，形成低溫內(nèi)循環(huán)。該沖擊試驗箱的大特點是：試件(待測品)靜止不動研學體驗，使用戶避免了因試件移動帶來的諸多不便建設項目。

　　標準型冷熱沖擊試驗箱產(chǎn)品結構：

　　1.外殼冷軋鋼板噴塑/內(nèi)膽不銹鋼最為突出，箱門均采用硅橡膠密封條。

　　2.隔熱層：硬質聚胺脂.超細玻璃棉

　　3.制冷方式：二元壓縮制冷方式(水冷冷凝器)

　　4.制冷機：制冷壓縮機選用2臺法國“泰康”半封閉壓縮機相結合，其主要制冷配件均采用進口原件高效化，組裝成為一套復疊制冷機組。在制冷管路系統(tǒng)中采用了多路能量調(diào)節(jié)回路為產業發展，能較好地保證達到試驗箱的各項技術參數(shù)範圍和領域。

　　5.加熱器：不銹鋼翅片加熱器

　　6.IPC2000彩色LCD觸摸屏控制器，可顯示所設定運行的溫度曲線及溫度的升降動態(tài)進程

　　7.待測品靜止自動引導預熱區(qū)各項要求、室溫更高要求、預冷區(qū)溫度沖擊。

　　8.試驗箱采用三箱式?jīng)_擊試驗程式控制講理論。高溫箱/試驗箱/低溫箱依上而下的可能性。樣品在試驗室內(nèi)保持靜止。