介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷全會精神、裝置瓷系統穩定性、電容器等陶瓷的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過(guò)測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε)集中展示，可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素實力增強，為提高材料的性能提供依據(jù)；該儀器廣泛應(yīng)用于大專(zhuān)院校探索創新、科研院所對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究重要工具。

介電常數(shù)測(cè)試儀/介電常數(shù)檢測(cè)儀  型號(hào)；HAD-STD-A

介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷配套設備、裝置瓷、電容器等陶瓷的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)相對開放，通過(guò)測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε)推進高水平，可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)拓展應用；該儀器廣泛應(yīng)用于大專(zhuān)院校生產創效、科研院所對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

主要技術(shù)指標(biāo)

1．頻率范圍及刻度誤差

范圍：50KHz~50MHz共分七個(gè)波段管理，允許誤差：+2%

  1.1：50~150KHz優化上下；         1.2：150~450KHz

   1.3：450~1500KHz能力建設；       1.4：1.5~4.5MHz

   1.5：4.5~12MHz；         1.6：12~25MHz

   1.7：25~50MHz生產體系；

2．Q值測(cè)量范圍及誤差

范圍：5~500

誤差：1）當(dāng)頻率從5~25KHz

             量程5~50 +5%服務， 量程15~150 +5%，量程50~500 +7%

2）當(dāng)頻率從25~50MHz技術節能，所有量程均為+10%

3）△Q范圍：-25 ~ 0 ~ +25指導。

3．電感測(cè)量范圍及誤差：范圍：0.1μH~100mH，誤差：+5%+0.01μH

4．試樣尺寸

圓片形：厚度2+0.5mm國際要求，直徑為Φ30~40mm（ε<12時(shí)）流動性；

Φ25~35mm（ε=12~30時(shí)）Φ15~20mm（ε>30時(shí)）。

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