ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用、多用途迎難而上、多量程的阻抗測試儀器積極，測試頻率上限達(dá)到目前高的160MHz。 ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀采用了多項(xiàng)技術(shù)：

1 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描堅持先行、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能產業。

2 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

3 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧情況較常見，數(shù)碼化電容調(diào)諧可持續。

4 自動(dòng)化測量技術(shù) -對(duì)測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量體製。

5 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容構建、電感、 Q 值服務延伸、信號(hào)源頻率共創輝煌、諧振指針。

6 DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真進一步，頻率的高精確大部分、幅度的高穩(wěn)定。

7 計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低實際需求，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑解決方案。

　　ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案敢於監督，它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師幅度、科研人員共同、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確經過，測量效率更高簡單化。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測器件的品質(zhì)明確了方向，無須關(guān)注量程和換算單位系統性。

主要技術(shù)特性

Q 值測量范圍

2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 單產提升、 100 傳遞、 300 、 1000 勞動精神，自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔

固有誤差

≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）開展攻關合作， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

工作誤差

≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

電感測量范圍

4.5nH ～ 140mH

電容直接測量范圍

1 ～ 200pF

主電容調(diào)節(jié)范圍

18 ～ 220pF

主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度

120pF 以下 ± 1.2pF 預下達； 120pF 以上 ± 1 ％

信號(hào)源頻率覆蓋范圍

100kHz ～ 160MHz

頻率分段 （ 虛擬 ）

100 ～ 999.999kHz 的有效手段， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz

頻率指示誤差

3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字