納米級(jí)光學(xué)干涉測(cè)厚儀

應(yīng)用： PET、PE緊密協作、PMMA等薄膜·離型膜·沉積膜·金屬表面漆膜涂層·膜涂層·塑料涂層

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

PSD-2000型在線納米級(jí)光學(xué)膜厚儀利用光譜相干測(cè)量學(xué)越來越重要，用于測(cè)量半導(dǎo)體制造過程中的薄膜厚度，以及安裝在半導(dǎo)體制造設(shè)備上的APC和薄膜的質(zhì)量控制發揮重要作用，能夠測(cè)量單層/多層/涂布層在不透光基板上的厚度醒悟，精準(zhǔn)度可達(dá)納米級(jí)。   

PSD-2000型在線納米級(jí)光學(xué)膜厚儀高質量，其核心部件主要源自于美國(guó)Ocean Optics有限公司也逐步提升，其微型光譜儀體積小巧，可對(duì)全譜進(jìn)行快速采集智能設備，產(chǎn)品應(yīng)用廣泛不可缺少，可用于生化、光電特點、航空航天積極回應、環(huán)境保護(hù)、安全檢測(cè)又進了一步、農(nóng)業(yè)等行業(yè)多種場景，可進(jìn)行 Low-E玻璃鍍膜檢測(cè)，ITO玻璃鍍膜檢測(cè)規劃，PET涂布在線膜厚檢測(cè)擴大公共數據，金屬表面涂層檢測(cè)，半導(dǎo)體全面展示，LCD膜厚檢測(cè)等重要平臺。 

工作原理：分光干涉法

當(dāng)光入射到樣品內(nèi)部，會(huì)發(fā)生多重反射現(xiàn)象核心技術，多重反射光會(huì)由于相互之間的相位差增強(qiáng)或減弱應用提升，而相位差取決于樣品的折射率和光程，因此來自于樣本的反射光譜與其厚度有直接關(guān)系創造性。光譜干涉法就是利用這種的光譜分析出樣品的厚度發展的關鍵，該厚度測(cè)量?jī)x器根據(jù)測(cè)試范圍的不同主要使用曲線擬合和FFT兩種方法對(duì)光譜進(jìn)行分析。

應(yīng)用范圍： 

?PET薄膜厚度測(cè)量

?涂層厚度測(cè)量規模設備，如HC真諦所在，保護(hù)膜，光刻膠競爭力，OCA充分，離型膜等涂布厚度或克重的測(cè)量

?用于包裝的PET表面介質(zhì)膜克重或膜厚測(cè)量

?金屬表面透明和半透明漆膜涂層

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

在線掃描式或多點(diǎn)測(cè)量（多達(dá)15點(diǎn)）同時(shí)測(cè)量

通過光強(qiáng)波動(dòng)校正功能實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定測(cè)量

提醒及警報(bào)功能(通過或失敗)

反射(透射)和光譜測(cè)量

同步測(cè)量多層厚度

高速、高準(zhǔn)確度

參數(shù)：

PSD-200實(shí)驗(yàn)室型納米級(jí)光學(xué)干涉測(cè)厚儀

用途：

·太陽能減反膜玻璃關規定，TCO玻璃，Low-E玻璃兩個角度入手，ITO玻璃，光學(xué)玻璃鍍膜等測(cè)量同期。

·PET膜透明膠膜厚測(cè)量

·膜厚生產效率，顏色，粗糙度效果，透過率使用，反射率，霧度

·可用于實(shí)驗(yàn)室離線測(cè)量

技術(shù)水平：

·精度0.1%密度增加，達(dá)到國(guó)際同類產(chǎn)品水平

·檢測(cè)透明和半透明涂層

·反射式太陽能玻璃的膜厚/折射率測(cè)量?jī)x有效性，具有測(cè)量速度快，測(cè)量準(zhǔn)確機遇與挑戰，操作簡(jiǎn)便的特點(diǎn)廣泛關註。

技術(shù)參數(shù)：