【中國(guó)儀器網(wǎng) 日立】2018年6月19日兩個角度入手，日立分析儀器拓展了XRF鍍層測(cè)厚儀 X-Strata920 的功能，添置了新型高分辨率探測(cè)器和新型樣品臺(tái)配置顯示。
 

　　2018年6月19日創新為先，英國(guó)牛津：日立分析儀器公司（日立分析儀器），是日立高新技術(shù)公司（TSE：8036）旗下一家從事分析和測(cè)量?jī)x器的制造與銷售業(yè)務(wù)的全資子公司科普活動。今日創新延展，日立分析儀器拓展了XRF鍍層測(cè)厚儀 X-Strata920 的功能，添置了新型高分辨率探測(cè)器和新型樣品臺(tái)配置長期間。

　　日立分析儀器XRF鍍層測(cè)厚儀系列在電子和金屬表面處理行業(yè)已有超過(guò)40年鍍層分析的成功經(jīng)驗(yàn)基本情況。X-Strata920可確保鍍層符合規(guī)格要求，并將鍍層過(guò)量或過(guò)少鍍層廢料造成的浪費(fèi)減至少高端化。隨著X-Strata功能的擴(kuò)展力量，用戶可以通過(guò)該儀器進(jìn)行更多工作。

　　這一款新型X-Strata意味著可選擇高分辨率硅漂移探測(cè)器（SDD）或正比計(jì)數(shù)器定制儀器提單產，以優(yōu)化其性能深入實施。此外，它現(xiàn)在擁有四個(gè)腔室和基座配置發展空間，可處理各種形狀和尺寸的樣品效果，包括汽車行業(yè)中的復(fù)雜幾何形狀。

　　對(duì)于復(fù)雜的鍍層結(jié)構(gòu)足了準備，SDD可以提供優(yōu)于正比計(jì)數(shù)器的優(yōu)勢(shì)合作關系，因?yàn)樗追治鼍哂蓄愃芚RF特征的元素，例如鎳和銅深刻內涵。這擴(kuò)大了可以用于分析的元素范圍傳遞，包括磷 — 對(duì)于化學(xué)鍍鎳分析非常關(guān)鍵，并且可以更地測(cè)量較薄鍍層深入闡釋，例如符合IPC-4552A的納米范圍的金相關性。

　　日立分析儀器產(chǎn)品業(yè)務(wù)發(fā)展經(jīng)理Matt KREINER表示：“X-Strata920以及日立分析儀器產(chǎn)品系列的其他XRF儀器因其未來(lái)前景、可靠性和易用性而聞名物聯與互聯。SDD的加入以及多種配置選擇能提高我們客戶的分析能力和靈活性可以使用，以測(cè)量大量零件的復(fù)雜鍍層。我們保留了高度直觀的SmartLink軟件紮實，因此任何操作員（無(wú)論經(jīng)驗(yàn)水平如何）都能夠快速學(xué)會(huì)使用儀器并獲得準(zhǔn)確可靠的結(jié)果。我們的鍍層產(chǎn)品新體系，包括FT150微焦斑鍍層測(cè)厚儀等地、手持式XRF光譜以及可進(jìn)行快速便攜式分析的CMI系列，40多年來(lái)在鍍層測(cè)量領(lǐng)域一直深受信賴尤為突出，我們很高興能夠提供這些改進(jìn)成果規定。”