1986年成立至今，原子力顯微鏡技術(shù)已經(jīng)過30年的發(fā)展。30年間相對簡便，AFM的功能也從初的表面形貌測(cè)量發(fā)展成功能全面的材料物性測(cè)試工具覆蓋範圍。隨著技術(shù)的進(jìn)步，如今第三代原子力顯微鏡能夠?qū)崿F(xiàn)高分辨率成像，快速掃描的能力，并且更易操作。
　　
　　牛津儀器原子力顯微鏡將在南京大學(xué)和四川大學(xué)分別舉行“原子力顯微鏡技術(shù)新進(jìn)展研討會(huì)”很重要。兩場(chǎng)研討會(huì)將分別就AFM技術(shù)進(jìn)展和納米電學(xué)性能表征測(cè)試等議題進(jìn)行分享，我們還為大家現(xiàn)場(chǎng)演示超高分辨率覆蓋，具有快速掃描能力的CypherS型AFM異常狀況。歡迎大家參加！
　　
　　“原子力顯微鏡技術(shù)新進(jìn)展研討會(huì)”四川大學(xué)站
　　
　　時(shí)間：2016年11月23日
　　
　　地點(diǎn)：四川大學(xué)望江校區(qū)（成都市一環(huán)路南一段24號(hào)紅瓦寺街北苑賓館三樓茶坊大會(huì)議室）