漆膜涂鍍層測(cè)厚儀的影響因素：
a基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中基礎上，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響應用領域，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)保持競爭優勢；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
b基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響實現，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)不容忽視。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
c基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度服務體系。大于這個(gè)厚度說服力，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1分析。
d邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感表示。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
e曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響非常激烈。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大競爭力所在。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的領域。
f試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形發展需要，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。
g表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響管理。粗糙程度增大顯示，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差效率和安，每次測(cè)量時(shí)設計能力，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差深入開展。如果基體金屬粗糙更為一致，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后技術的開發，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)研究與應用。
g磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作更高效。
h附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感全面協議，因此，必須清除附著物質(zhì)影響，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸新的動力。
i測(cè)頭壓力
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此發展契機，要保持壓力恒定廣泛關註。
j測(cè)頭的取向
測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中發力，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直優勢領先。
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