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　　原子力顯微鏡AFM是可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱服務；現(xiàn)已廣泛應用于半導體很重要、納米功能材料、生物指導、化工廣泛認同、食品、醫(yī)藥研究和科研院所各種納米相關(guān)學科的研究實驗等領(lǐng)域中流動性，成為納米科學研究的基本工具鍛造。
 

　　原理：
 

　　將在微小扁簧的頂端裝有尖細探針的懸臂靠近樣本表面直至距離為數(shù)nm 的地方，通過探針頂端的原子與樣本原子之間產(chǎn)生的原子力測量樣本的凹凸情況追求卓越。原子力顯微鏡為使原子力穩(wěn)定(懸臂撓度穩(wěn)定)逐漸完善，向壓電式掃描儀發(fā)送反饋并進行掃描參與能力。
 

　　測量壓電式掃描儀接收到的位移量合理需求，可獲取Z 軸位移是目前主流，也就是表面結(jié)構(gòu)。
 

　　測量壓電式掃描儀位移量的方法通常采用光學杠桿方式高質量，即向懸臂背面照射激光充分發揮，通過將反射光分成4份(或2份)的光電二極管進行檢測。
 

　　原子力顯微鏡AFM的優(yōu)點：
 

　　- 分辨率(可分辨出2點的小距離)高管理。
 

　　- 可以進行超高倍率的三維測量設計。也可以進行數(shù)據(jù)后加工處理。
 

　　- 可在大氣中進行觀測改進措施，無需預處理樣本就此掀開。
 

　　- 能分析物理性能(電性能、磁性能今年、摩擦/粘彈性等)穩步前行。