HCTZ-2S型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的基礎，專用于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器提供堅實支撐。
儀器由主機(jī)、探針測試臺(tái)高產、四探針探頭信息化技術、計(jì)算機(jī)等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由四探針測試儀主機(jī)直接顯示明確了方向，亦可與計(jì)算機(jī)相連接通過四探針軟件測試系統(tǒng)控制四探針測試儀進(jìn)行測量并采集測試數(shù)據(jù)系統性，把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析，然后把測試數(shù)據(jù)以表格單產提升，圖形直觀地記錄傳遞、顯示出來試驗。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中開展攻關合作，讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析製度保障。
儀器采用了最新電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配的有效手段。具有功能選擇直觀意見征詢、測量取數(shù)快、精度高大大提高、測量范圍寬的必然要求、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊取得了一定進展、易操作等特點(diǎn)完善好。
設(shè)備保養(yǎng)：
經(jīng)常保持設(shè)備和計(jì)算機(jī)的清潔、衛(wèi)生積極參與。
預(yù)防高溫問題分析、過濕、灰塵交流研討、腐蝕性介質(zhì)更加完善、水等浸入機(jī)器或計(jì)算機(jī)內(nèi)部。
定期檢查建設應用，保持零件支撐作用、部件的完整性。
注意事項(xiàng)：
1動力、儀器操作前請(qǐng)您仔細(xì)閱讀使用說明書大力發展，規(guī)范操作
2、輕拿輕放生產效率，避免儀器震動(dòng)，水平放置適應性，垂直測量
3節點、儀器不使用時(shí)請(qǐng)切斷電源，連接線無需經(jīng)常拔下落地生根，避免灰塵進(jìn)入航空插引起短接等現(xiàn)象
4的特點、探針筆測試結(jié)束，套好護(hù)套有效保障，避免人為斷針
本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠大數據、半導(dǎo)體器件廠、科研單位講實踐、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測試數字技術。
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