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鐵電參數(shù)測試功能

Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率

Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測試多種；

PUND 脈沖測試；

Fatigue 疲勞測試充分發揮；

Retention保持力發展成就；

Imprint印跡；

Leakage current漏電流測試同時；

Thermo Measurement 變溫測試功能互動式宣講。

壓電參數(shù)測試功能

可進行壓電陶瓷的準靜態(tài)d33等參數(shù)測試，也可通過高壓放大器與位移傳感器（如激光干涉儀）動態(tài)法測量壓電系數(shù)測量模式。

熱釋電測試功能

主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試自動化。采用電流法進行測量材料的熱釋電電流、熱釋電系數(shù)高品質、剩余極化強度對溫度和時間的曲線不折不扣。

薄膜材料變溫范圍：-196℃到+600℃；

塊體材料變溫范圍：室溫到200℃資源優勢、室溫到600℃高效利用、室溫到800℃

介電溫譜測試功能

用于分析寬頻、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z估算、電抗X講理論、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G基礎上、電納B各領域、電感L應用領域、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量進行培訓，同時還可以分析被測樣品隨溫度發展機遇、頻率、時間法治力量、偏壓變化的曲線全技術方案。也可進行壓電陶瓷的居里溫度測試。

熱激發(fā)極化電流測試儀 TSDC

  用于研究材功材料性能的一些關(guān)鍵因素共享，諸如分子弛豫信息化、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等全面闡釋，通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間非常激烈、活化能等相關(guān)的介電特性。

絕緣電阻測試功能

高精zhun度的電壓輸出與電流測量引人註目，保障測試的品質(zhì)，適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數(shù)據(jù)的檢測溝通機製。例如：陶瓷材料好宣講、硅橡膠測試、PCB領先水平、云母、四氟材料電阻測試、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的性能測試戰略布局。

高溫四探針測試功能

符合功能材料導(dǎo)體事關全面、半導(dǎo)體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測試多樣化的需求。雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量狀態。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準并參考美國A.S.T.M標(biāo)準技術節能。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)

適用于半導(dǎo)體廣泛認同，陶瓷材料國際要求，金屬材料等多種材料的多種熱電性能分析；可根據(jù)用戶需求配置薄膜測量選件鍛造，低溫選件溫度范圍-100℃到200℃競爭激烈，高阻選件高至10MΩ。

電卡效應(yīng)測試功能

還可以用于測試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能工具。

溫度范圍：-50℃到200℃智慧與合力、熱流時間范圍：1s-1000s，大電壓可達10kV重要的角色，

波形：用戶自定開放要求、脈沖向好態勢、三角波、正弦波迎來新的篇章、任意波形共創美好、預(yù)定義波形。

用戶可根據(jù)不同的需要薄弱點，選擇不同的配置覆蓋範圍。