數(shù)字變焦功能，可捕捉樣品的各種細(xì)節(jié)

數(shù)字變焦功能高質量，可捕捉樣品的各種細(xì)節(jié)技術先進。 

工業(yè)測(cè)量解決方案 采集只需一秒鐘。利用 S wide 的條紋投影技術(shù)和一系列不同的采集模式延伸，可以優(yōu)化測(cè)量以實(shí)現(xiàn)超高的量測(cè)效率認為。

生產(chǎn)質(zhì)量保證

易于使用 

使用 S wide 進(jìn)行測(cè)量非常簡(jiǎn)單：加載樣品、設(shè)置方法以及檢查結(jié)果新趨勢。 

高分辨率 3D 成像 

捕捉每個(gè)細(xì)節(jié) 

這款 3D 掃描儀配備 500 萬(wàn)像素彩

大型設(shè)置  

借助 300 x 300 毫米的平臺(tái)配置反應能力，可測(cè)量大量樣品陣列和大面積區(qū)域。

精密光學(xué)測(cè)量 

亞微米級(jí)重復(fù)性 

S wide 采用專有的條紋投影算法學習，可實(shí)現(xiàn)微米級(jí)精度結構重塑，在大面積的測(cè)量表面上提供的亞微米高度重復(fù)性。 

高級(jí)軟件工具 

高效的數(shù)據(jù)提取 

S wide 配備了一套分析工具應用優勢，可以從測(cè)量數(shù)據(jù)中提取每條信息：粗糙度和平整度參數(shù)高質量發展、關(guān)鍵尺寸、GD&T 和 CAD 比較全面展示。