Swide是專用系統(tǒng)，適用于快速測量大樣品區(qū)域不合理波動，測量面積可達300x300mm

S wide 是專用系統(tǒng)宣講手段，適用于快速測量大樣品區(qū)域，測量面積可達 300 x 300 mm積極拓展新的領域。它具有集成了數(shù)字顯微鏡的高分辨率測量儀器的所有優(yōu)點配套設備。一鍵式采集功能，易于使用相對開放。

亞微米高度 可重復性推進高水平，整個擴展區(qū)域內

無需 Z 軸掃描即可測量 40mm 的單次測量高度

具有極低場失真的雙側遠心鏡頭，提供精確的測量

ISO 標準

可追溯性

每一款 S wide 產品都是為提供準確且可追溯的測量結果而制造的溝通機製。系統(tǒng)根據(jù) ISO 25178 和 VDI 2634-2 使用可追溯標準進行校準好宣講。

與 3D CAD 模型的形狀偏差

提供幾何差異和公差測量

可追溯性

表面紋理測量儀器的校準

我們的所有系統(tǒng)精心制造，提供準確領先水平、可追溯的測量。系統(tǒng)按照符合ISO 25178第 7 部分關于下列參數(shù)的指南的可追溯標準進行校準：Z 放大系數(shù)、XY 橫向尺寸戰略布局、平面度誤差以及偏心度事關全面。

讓新的 Sensofar 系統(tǒng)

S wide 拓寬您的視野
了解有關 Sensofar 新的 3D 光學輪廓儀的所有信息，
它將測量學擴展到更大的視場中狀態，適用于進行表面粗糙度測量技術節能。
S wide 將數(shù)字顯微鏡的優(yōu)勢集成到高分辨率、快速掃描的測量儀器中基石之一。
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