MPS10系列脈沖雷達物位計是基于時域反射原理的測量系統(tǒng)

MPS10系列脈沖雷達物位計是基于時域反射原理的測量系統(tǒng)高質量。雷達物位計的天線發(fā)射極窄的微波脈沖提供了有力支撐，這個脈沖以光速在空間傳播，遇到被測介質(zhì)表面時前景，由于介電常數(shù)發(fā)生突變進一步意見，微波脈沖的部分能量被反射回來，并被天線系統(tǒng)接收共享應用。

發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與雷達天線到被測介質(zhì)表面的距離成正比生產能力。通過測量發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間差，并由式(1)即可計算出被測物質(zhì)到儀表法蘭的距離取得了一定進展。

D=1/2·ct (1)

其中D為測量參考面到被測介質(zhì)的距離完善好，c為光（電磁波）在真空的的傳播速度，t為發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間差積極參與。

然后根據(jù)用戶設(shè)定的空料位位置問題分析，由式(2)即可計算出物料高度。

L=E-D (2)

其中E為測量參考面到用戶設(shè)定的空料位位置交流研討，D為測量參考面到被測介質(zhì)的距離更加完善，L為物料高度。