MPS20系列脈沖雷達物位計是基于時域反射原理的測量系統(tǒng)

MPS20系列脈沖雷達物位計是基于時域反射原理的測量系統(tǒng)力量。雷達物位計的天線發(fā)射極窄的微波脈沖我有所應，這個脈沖以光速在空間傳播，遇到被測介質(zhì)表面時深入實施，由于介電常數(shù)發(fā)生突變至關重要，微波脈沖的部分能量被反射回來，并被天線系統(tǒng)接收效果。

發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與雷達天線到被測介質(zhì)表面的距離成正比有所應。通過測量發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間差，并由式(1)即可計算出被測物質(zhì)到儀表法蘭的距離合作關系。

D=1/2·ct (1)

其中D為測量參考面到被測介質(zhì)的距離著力提升，c為光（電磁波）在真空的的傳播速度，t為發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間差傳遞。

然后根據(jù)用戶設(shè)定的空料位位置融合，由式(2)即可計算出物料高度深入闡釋。

L=E-D (2)

其中E為測量參考面到用戶設(shè)定的空料位位置，D為測量參考面到被測介質(zhì)的距離完成的事情，L為物料高度物聯與互聯。