MPS30系列脈沖雷達物位計是基于時域反射原理的測量系統(tǒng)

MPS30系列脈沖雷達物位計是基于時域反射原理的測量系統(tǒng)不斷創新。雷達物位計的天線發(fā)射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播探索，遇到被測介質(zhì)表面時堅持先行，由于介電常數(shù)發(fā)生突變，微波脈沖的部分能量被反射回來滿意度，并被天線系統(tǒng)接收情況較常見。

發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與雷達天線到被測介質(zhì)表面的距離成正比。通過測量發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間差模樣，并由式(1)即可計算出被測物質(zhì)到儀表法蘭的距離生產體系。

D=1/2·ct (1)

其中D為測量參考面到被測介質(zhì)的距離，c為光（電磁波）在真空的的傳播速度很重要，t為發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間差能力和水平。

然后根據(jù)用戶設定的空料位位置覆蓋，由式(2)即可計算出物料高度。

L=E-D (2)

其中E為測量參考面到用戶設定的空料位位置研究，D為測量參考面到被測介質(zhì)的距離高效，L為物料高度。