光纖光譜儀更新：2024-3-13 16:27:59點擊：產品品牌Stellarnet產品型號產品描述薄膜測試系統(tǒng)提供完整的一套膜厚測試系統(tǒng)，可以對單層或多層的5nm-200um的快速測試的必然要求。這套系統(tǒng)包含便攜式光纖光譜儀研究成果，反射式探針和光源取得了一定進展。...PDF下載 詢價 申請樣品

描述

薄膜測試系統(tǒng)提供完整的一套膜厚測試系統(tǒng)，可以對單層或多層的5nm-200um的快速測試大面積。這套系統(tǒng)包含便攜式光纖光譜儀積極參與，反射式探針和光源。通過樣品正面反射的正弦條紋圖得到反射和膜厚的光學特性培養，多種可選擇模式滿足不同的膜厚和光學需求交流研討。

ThinFilmCompanion系統(tǒng)特性

實時光譜捕捉和儀器控制（反射和透射測試）

內置大量材料數據

支持多層，單層形式，粗建設應用，厚膜和薄膜結構測試

新材料數據可以輕松添加

實際測試和文件導入

支持復合物材料測試

TF軟件

采用用戶友好界面軟件可以快速測試膜厚和光學常數（n和k值），是復雜的測試變得簡單化日漸深入。這個軟件內部包含大量 的材料數據資料動力，使得的測試范圍更廣，多層膜互動式宣講，單層膜效高性，粗糙的，薄膜自動化，厚膜等都可以測試提升，并且新材料的數據也可以隨時導入到軟件中。

    主要測試過程包含兩部分：數據采集和數據分析意向。TF系統(tǒng)定義了所有測試過程意料之外，并且向用戶開放，同時用戶也可以此 基礎來存儲數據和后續(xù)開發(fā)形式。