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XTD-200全自動(dòng)膜厚儀

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XTD-200全自動(dòng)鍍層測(cè)厚儀儀器簡(jiǎn)介:XTD-200是一款專用于檢測(cè)各種異形件交流,特別適用于五金類模具基礎、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析

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XTD-200全自動(dòng)鍍層測(cè)厚儀

儀器簡(jiǎn)介:XTD-200是一款專用于檢測(cè)各種異形件,特別適用于五金類模具經過、衛(wèi)浴產(chǎn)品簡單化、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。該系列儀器不但可以應(yīng)對(duì)平面明確了方向、微小樣品的檢測(cè)系統性,在面對(duì)凹槽曲面深度0-90mm以內(nèi)的異形件具備巨大的優(yōu)勢(shì);搭載全自動(dòng)可編程移動(dòng)平臺(tái)單產提升,無(wú)人值守傳遞,便可實(shí)現(xiàn)多樣品的自動(dòng)檢測(cè)。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控勞動精神、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用開展攻關合作。產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):技術(shù)參數(shù):1. 
  • yle="clear:none !important;"> 測(cè)量面積:最小0.002mm²
  • yle="clear:none !important;"> 鍍層分析:23層鍍層24種元素
  • yle="clear:both;"> 儀器特點(diǎn):可變焦對(duì)焦
  • yle="clear:none !important;"> 儀器優(yōu)勢(shì):同元素不同層分析
  • yle="clear:both;"> :
  • yle="clear:none !important;"> 服務(wù)宗旨:專注研發(fā),專業(yè)生產(chǎn)預下達,專精服務(wù)

 

儀器簡(jiǎn)介:
XTD-200是一款專用于檢測(cè)各種異形件的有效手段,特別適用于五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品方案、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析關鍵技術。
該系列儀器不但可以應(yīng)對(duì)平面、微小樣品的檢測(cè)深入,在面對(duì)凹槽曲面深度0-90mm以內(nèi)的異形件具備巨大的優(yōu)勢(shì)技術研究;搭載全自動(dòng)可編程移動(dòng)平臺(tái),無(wú)人值守開展研究,便可實(shí)現(xiàn)多樣品的自動(dòng)檢測(cè)姿勢。

被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用首要任務。


產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):



技術(shù)參數(shù):
1. 元素分析范圍:氯(Cl)- 鈾(U)
2. 涂鍍層分析范圍:鋰(Li)- 鈾(U)
3. 厚度檢出限:0.005μm
4. 成分檢出限:1ppm
5. 最小測(cè)量直徑0.05mm(最小測(cè)量面積0.002mm²)
6. 對(duì)焦距離:0-90mm
7. 樣品腔尺寸:530mm*570mm*150mm
8. 儀器尺寸:760mm*550mm*635mm
9. 儀器重量:120KG


應(yīng)用領(lǐng)域:


多元迭代EFP核心算法(號(hào):2017SR567637)

專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上綠色化,計(jì)算樣品中每個(gè)元素的一次熒光、二次熒光發展、靶材熒光拓展、吸收增強(qiáng)效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開(kāi)發(fā)出EFP核心算法信息,結(jié)合的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)大力發展,只需要少量的標(biāo)樣來(lái)校正儀器因子豐富內涵,可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬產能提升、輕金屬適應性、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。
單涂鍍層應(yīng)用:如Ni/Fe、Ag/Cu等
多涂鍍層應(yīng)用:如Au/Ni/Fe落地生根、Ag/Pb/Zn等
合金鍍層應(yīng)用:如ZnNi/Fe的特點、ZnAl/Ni/Cu等
合金成分應(yīng)用:如NiP/Fe,通過(guò)EFP算法有效保障,在計(jì)算鎳磷鍍層厚度的同時(shí)大數據,還可精準(zhǔn)分析出鎳磷含量比例。
重復(fù)鍍層應(yīng)用:不同層有相同元素講實踐,也可精準(zhǔn)測(cè)量和分析數字技術。
如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,層Ni和第三層Ni的厚度均可測(cè)量市場開拓。


選擇一六儀器的四大理由:
1.一機(jī)多用措施,無(wú)損檢測(cè)
2.最小測(cè)量面積0.002mm²
3.可檢測(cè)凹槽0-90mm的異形件
4.輕元素,重復(fù)鍍層要落實好,同種元素不同層亦可檢測(cè)


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