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顯微光譜測量系統(tǒng)-MicroTEQ-B1

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MicroTEQ-B1顯微光譜測量系統(tǒng),具備透反射測量功能

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

MicroTEQ-B1顯微光譜測量系統(tǒng)共創輝煌,具備透反射測量功能具有重要意義。系統(tǒng)選用了共焦收光方式,形成了較小的收光面大部分;除此之外強大的功能,視野+成像+收光+物面的共軛,可使觀察和測試同時(shí)進(jìn)行解決方案。系統(tǒng)中的顯微反射測量模塊可適配市面上大部分主流顯微鏡優勢,滿足客戶對顯微鏡的不同需求。


成像照片


下圖為使用10X物鏡對50um小孔進(jìn)行透射率測量時(shí)的聚焦和實(shí)測畫面增產。

實(shí)測圖譜

系統(tǒng)參數(shù)

型號

MicroTEQ-B1

光譜儀

可根據(jù)情況自行選配

顯微反射測量模塊

兼容大部分主流顯微鏡

尺寸

220x172x68 mm

重量

2.8 kg

支持波段

400-700 nm

反射照明支持相機(jī)尺寸

1/2”

測量光斑

  1. 10 um @ 10x 物鏡 @ 100 um 光纖
  1. 50 um @ 10x 物鏡 @ 500 um 光纖





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