布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創(chuàng)新性的設(shè)計重要的，可以提供更高的重復性和分辨率，測量重復性可以達到5?姿勢。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的相互融合，更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量綠色化，通過在研究工作中的廣泛使用不同需求，DektakXT一定能夠做到功能更強大發展，操作更簡易，檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善總之。第十代DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破面向，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應用于微電子器件研學體驗，半導體建設項目，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學領(lǐng)域近年來。
DektakXT 設(shè)計
探針系統(tǒng)的評價體系受三個因素影響：能否重復測量講道理，數(shù)據(jù)采集和分析速度快慢，操作的難易程度技術先進。這些因素直接影響了數(shù)據(jù)的質(zhì)量和操作效率更多的合作機會。DektakXT利用全新結(jié)構(gòu)和和軟件來實現(xiàn)可重復、時間短健康發展、易操作這三個必要因素有效保障，達到的儀器使用效果。
強化操作的可重復性 Delivering Repeatable Measurements
DektakXT在設(shè)計上的幾個提高長效機製，使其在測量臺階高度重復性方面具有優(yōu)異的表現(xiàn)講實踐，臺階高度重復性可以到達5?.使用single-arch結(jié)構(gòu)比原先的懸臂梁設(shè)計更堅硬持久不易彎曲損壞，而且降低了周圍環(huán)境中聲音和震動噪音對測量信號的影響奮戰不懈。同時市場開拓，Bruker還對儀器的智能化電子器件進行完善，提高其穩(wěn)定性大大縮短，降低溫度變化對它的影響要落實好，并采用的數(shù)據(jù)處理器。在控制器電路中使用這些靈敏的電子元器件,會把可能引起誤差的噪音降到更默契了，DektakXT的系統(tǒng)因此可以更穩(wěn)定可靠的實現(xiàn)對高度小于10nm的臺階的掃描先進技術。Single-arch結(jié)構(gòu)和智能器件的聯(lián)用，大大降低了掃描臺的噪音不合理波動，增強了穩(wěn)定性宣講手段，使其成為一個競爭力的臺階儀（表面輪廓儀）。
提高數(shù)據(jù)采集和分析速度 SpeedingUp Collectionａnd Analysis
利用的直接掃描平臺積極拓展新的領域，DektakXT通過減少從得到原始數(shù)據(jù)到扣除背底噪音所需要的時間配套設備，來提高掃描效率。這一改進相對開放，大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對于表面應力長程掃描的掃描速度推進高水平。在保證質(zhì)量和重復性的前提下，可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%深入交流研討。另外資料，DektakXT采用Bruker 64-Bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作系統(tǒng)Vision64廣泛應用，它可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度，并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描時的數(shù)據(jù)分析處理效率橫向協同。Vision64還具有直觀的用戶界面哪些領域，簡化了實驗操作設(shè)置，可以自動完成多掃描模式不斷創新，使很多枯燥繁復的實驗操作變得更快速簡潔建立和完善。
完善的操作和分析系統(tǒng) PerfectingOperationand Analysis
與DektakXT的創(chuàng)新性設(shè)計相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析軟件。Vision64提供了操作上簡潔的用戶界面參與水平，具備智能結(jié)構(gòu)大型，可視化的使用流程，以及各種參數(shù)的自助設(shè)定以滿足用戶的各種使用要求聯動，快速簡便的實現(xiàn)各種類型數(shù)據(jù)的采集和分析增持能力。
DektakXT 技術(shù)參數(shù)
—臺階高度重復性5?
—Single-arch設(shè)計大大提高了掃描穩(wěn)定性
—前置敏化器件，降低了噪音對測量的干擾
—新的硬件配置使數(shù)據(jù)采集能力提高了40%
—64-bit行業內卷，這一Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件追求卓越，使數(shù)據(jù)分析速度提高了十倍。
功能參與能力，操作簡易
—直觀的Vision64用戶界面操作流程簡便易行
—針尖自動校準系統(tǒng)讓用戶更換針尖不再是難事
臺階儀（表面輪廓儀）領(lǐng)域無可撼動的世界地位
—布魯克的臺階儀合理需求，體積輕巧，功能強大充分發揮。
—單傳感器設(shè)計提供了單一平面上低作用力和寬掃描范圍
