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參考價(jià) | 面議 |
- 公司名稱 深圳市順心科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào) KSIV300E
- 所在地 深圳市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2023/12/3 20:30:10
- 訪問次數(shù) 113
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KSI V300E是一款高產(chǎn)能超聲波聲學(xué)顯微鏡配套設備,可以對(duì)塑封集成電路IC、IGBT大功率模組相對開放,各型電容推進高水平、以及銅基板器件進(jìn)行無損檢測(cè),分析器件內(nèi)部之分層拓展應用、裂縫生產創效、空洞等缺陷。
KSI 品牌是由德國(guó)的 Klaus Kraemer 博士所創(chuàng)立管理,Klaus Kraemer 博士是是歐洲聲學(xué)顯微技術(shù)的優化上下,從 1984 年開始一直到現(xiàn)在,近 30 年來模樣,不斷推進(jìn)高分辨 聲學(xué)檢測(cè)技術(shù)的創(chuàng)新生產體系,為半導(dǎo)體、復(fù)合材料很重要、生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域參與水平,提供聲學(xué)檢測(cè)裝備和訂制化的技術(shù)解決方案。Klaus Kraemer 博士本人則堪稱歐洲高分 辨聲學(xué)檢測(cè)技術(shù)歷史的活化石服務效率。
KSI 公司一直專注于聲學(xué)顯微基礎(chǔ)技術(shù)的研究與開發(fā)明確相關要求,目標(biāo)是朝更高精度重要意義、更高分辨率、更大的產(chǎn)能深化涉外、設(shè)備更加體系、更加耐用方向發(fā)展。這也非常符合德國(guó) 人作風(fēng)參與能力,專注合理需求、專業(yè)、一輩子只做好一件事充分發揮。 2009 年開發(fā)的 FCT 低噪探頭技術(shù)高質量,能極大地壓制探頭在水中運(yùn)動(dòng)掃描時(shí)所產(chǎn)生的水花,顯著提高聲學(xué)圖像的品質(zhì)選擇適用,并使設(shè)備能夠持續(xù)在高速狀態(tài)下進(jìn)行工作管理, 而不會(huì)由于巨大的水花而導(dǎo)致對(duì)測(cè)試結(jié)果的誤判。 近年來推出的全新一代 v 系列聲學(xué)顯微系統(tǒng)業務指導,靈敏度可以達(dá)到 0.3 微米改進措施。在噪聲控制、弱信號(hào)處理技術(shù)更上一個(gè)新臺(tái)階長足發展,不需要外置濾波器即可對(duì)晶 圓級(jí)的缺陷進(jìn)行高分辨檢測(cè)今年,既讓圖像更清晰,又不遺漏微缺陷結構不合理。這也是 Ksi 公司多年專注于超聲基礎(chǔ)技術(shù)研發(fā)的基礎(chǔ)上取得的進(jìn)展動手能力。
掃描范圍適中:300mm x 300mm;
磁懸浮超高速機(jī)型意見征詢;
掃描速度:2米/秒提升;
掃描加速度:30米/秒;
KSI一臺(tái)機(jī)器相當(dāng)于常規(guī)機(jī)器2臺(tái)的工作量示範。(常規(guī)機(jī)器小于1米/秒)應用前景;
高掃描重復(fù)精度:+/-0.1微米(常規(guī)機(jī)器只能做到0.5微米);
低噪防誤判探頭(常規(guī)機(jī)器沒有運行好,無法在高速掃描時(shí)去除水花導(dǎo)致的誤判)首次。
一、掃描機(jī)械機(jī)構(gòu)
(1) X部署安排、Y軸都是由高精度磁懸浮直線電機(jī)驅(qū)動(dòng)
(2) X搖籃、Y軸一次掃描行程范圍:300mm×300mm(上限可以做到305mm x 305mm)
(3) X、Y軸一次最小掃描行程范圍:0.2mm×0.2mm
(4) 掃描速率:2000mm/s推廣開來,掃描加速度30m/s2
(5) X推動、Y軸掃描重復(fù)精度±0.1um
(6) Z軸是高精度自鎖步進(jìn)電機(jī),行程:100mm
(7) Z軸電機(jī)重復(fù)精度:± 0.25μm
二、 掃描模式
(1) 點(diǎn)波形(A-Scan)
(2) 縱剖掃描(B-Scan)
(3) 橫剖掃描(C-Scan)
(4) 斜剖掃描(D-Scan)
(5) 等間隔多層橫剖掃描(X-Scan)
(6) 自定義多層橫剖掃描信息,可獨(dú)立設(shè)置不同層面的厚度等參數(shù)
(7) 透射掃描
(8) 順序掃描大幅增加、托盤掃描、高質(zhì)量掃描傳承、表面跟蹤掃描等特點、全息掃描(實(shí)體掃描)
(9) 其它
三、 脈沖信號(hào)收發(fā)器和換能器
(1) 掃描工作模式:?jiǎn)瓮ǖ拦ぷ髂J?/span>
(2) 脈沖信號(hào)收發(fā)器帶寬:5MHz~550MHz
(3) 總增益:150dB
四多種、 主要功能
(1) 測(cè)試被測(cè)工件內(nèi)部缺陷將進一步,如空洞、分層發展成就、裂縫成就、異物等;
(2) 掃描圖像模板功能開展面對面,輕松獲得參數(shù)一致的聲學(xué)顯微圖像系統;
五、 其它指標(biāo)
(1) 保存圖像格式:JPG自動化、BMP提升、SAM(sam是原廠圖像格式)高品質;
(2) 圖像采樣像素:32000×32000像素 不折不扣,可以自定義輸入圖像分辨率或單個(gè)像素尺寸,由設(shè)備自動(dòng)計(jì)算所用的圖像分辨率資源優勢。
序號(hào) | 名稱 | 部件編號(hào) | 說明 | 選配請(qǐng)打v |
1 | 透射掃描模組 | TT-kit | 含透射接收探頭一個(gè)高效利用、透射樣品臺(tái)、其它透射結(jié)構(gòu)件 | |
2 | Jedec樣品架 | Jedec Tray | Jedec Tray | |
3 | 晶圓樣品臺(tái) | Wafer Chunk | Samplestage with wafer chuck | |
4 | 真空吸盤樣品臺(tái) | Universal Vacuum sample stage | Universal Vacuum-Sample-Stage, incl: -Vacuum Pump21qm/h -Water Absorber & Cycling System- Tubes & Cables | |
5 | 三維超聲CT成像軟件 | KSI 4D software | -Four dimensional sample viewing and analyzing -Free rotatable in all axis -Overview of all layers in extra window | |
6 | 高分辨濾波器 | HTE | Hilbert Transformation Envelope | |
7 | 常規(guī)探頭 | 5MHz | conventional probe with different focal length | |
8 | 常規(guī)探頭 | 15MHz | conventional probe with different focal length | |
9 | 常規(guī)探頭 | 20MHz | conventional probe with different focal length | |
10 | 常規(guī)探頭 | 30MHz | conventional probe with different focal length | |
11 | 常規(guī)探頭 | 40MHz | conventional probe with different focal length | |
12 | 常規(guī)探頭 | 50MHz | conventional probe with different focal length | |
13 | 常規(guī)探頭 | 75MHz | conventional probe with different focal length | |
14 | 常規(guī)探頭 | 100MHz | conventional probe with different focal length | |
15 | 常規(guī)探頭 | 110MHz | conventional probe with different focal length | |
16 | 常規(guī)探頭 | 125MHz | conventional probe with different focal length | |
17 | 常規(guī)探頭 | 150MHz | conventional probe with different focal length | |
18 | 常規(guī)探頭 | 230MHz | conventional probe with different focal length | |
19 | 低噪探頭 | 300MHz | conventional probe with different focal length | |
20 | 低噪探頭 | 320MHz | conventional probe with different focal length | |
21 | 聲學(xué)物透探頭 | 200MHz | Acoustic Objective 200MHz, 60 degree angle | |
22 | 聲學(xué)物透探頭 | 400MHz | Acoustic Objective 200MHz, 60 degree angle |
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