SX－1934型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置。它可以測量片狀效率、塊狀半導(dǎo)體材料徑向和軸向電阻率規模，測量片狀半導(dǎo)體材料的電阻率和擴散層的薄層電阻（方塊電阻）。

SX1934型數(shù)字式四探針測試計

SX－1934型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置講道理。它可以測量片狀發展目標奮鬥、塊狀半導(dǎo)體材料徑向和軸向電阻率，測量片狀半導(dǎo)體材料的電阻率和擴散層的薄層電阻（方塊電阻）更多的合作機會。換上特制的四探針測試夾延伸，還可以以金屬導(dǎo)體的低、中值電阻進(jìn)行測量服務好。

儀器由電氣箱新趨勢、測試架等部份組成，測試結(jié)果由數(shù)字直接顯示共謀發展。電氣箱主要由高靈敏度直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定恒流源組成學習。測試架探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和高耐磨碳化鎢探針。故定位準(zhǔn)確聽得懂、游移率小應用優勢、壽命長。 儀器具有測量精度高全方位、靈敏度高高效節能、穩(wěn)定性好影響力範圍、測量范圍寬、結(jié)構(gòu)緊湊培訓、使用方便等特點不合理波動。儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠重要工具、科研單位積極拓展新的領域、高等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。


訂購指南

編號 品名 主要技術(shù)指標(biāo) 單價(元)
146025 SX-1934型數(shù)字式四探針測試計 測量范圍--電阻率：10-4～103Ω-cm更優質，方塊電阻：10-3～104Ω多種方式，電阻：10-6～105Ω
可測半導(dǎo)體材料尺寸--直徑：15～100mm，長度：≤400mm
測量方法--軸向技術創新、斷面均可
數(shù)字電壓表--量程：0.2mV、2mV資料、20mV廣泛應用、200mV、2V 誤差：0.2mV量程 ±0.5% 讀數(shù)±8字 其它量程 ±0.5% 讀數(shù)±2字 輸入電阻：0.2mV,2mV量程 〉106Ω 其它量程: 〉108Ω 分辯率:0.1μV 顯示：3位半數(shù)字顯示橫向協同，極性哪些領域、過載自動顯示，小數(shù)點不斷創新、單位自動顯示
恒流源--直流電流0～100mA連續(xù)可調(diào)建立和完善；量程：10，100μA參與水平，1大型，10，100mA明確相關要求；誤差：±0.5% 讀數(shù)±2字
四探針測試探頭--探針間距：1mm重要意義；探針機械游移率：±1.0%；探針：碳化鎢 直徑0.5mm深化涉外；壓力：0～2Kg可調(diào)體系，zui大壓力約2Kg
電 源--220V±10% 50Hz～60Hz；功 耗--〈35W
外形尺寸--400（長）X440（寬）X120（高）mm
工作條件--溫度：23±2℃ 相對濕度：60～70%開展試點；工作室內(nèi)應(yīng)無強電磁場干擾攜手共進。不與高頻設(shè)備共用電源


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