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動(dòng)態(tài)光散射納米粒度/Zeta電位分析儀SZ-100

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 路易企業(yè)有限公司
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  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2020/10/19 15:49:17
  • 訪問次數(shù) 108

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HORIBA SZ-100系列納米顆粒分析儀在描述小顆粒物理性質(zhì)方面是靈活的分析工具情況較常見。根據(jù)不同的配置和應(yīng)用程序可以完成顆粒度的分析,zeta電位的檢測(cè)主要抓手,分子量(Mw)以及第二維利系數(shù)(A2)的測(cè)定體製。

SZ-100的典型應(yīng)用包括:納米顆粒,膠體創新科技,乳液以及亞微米懸浮液服務延伸。



SZ-100還可以用于檢測(cè)蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)具有重要意義。用戶準(zhǔn)備幾個(gè)已知濃度的溶液進一步,然后使用系統(tǒng)的靜態(tài)光散射模式繪制Debye曲線,從而計(jì)算出Mw和A2強大的功能。



主要特點(diǎn):



 



◆ 可測(cè)納米粒子的三個(gè)重要要素——粒子直徑實際需求、Zeta電位和分子量



◆ 超寬動(dòng)態(tài)測(cè)定有效范圍:0.3nm~8000nm(光子相關(guān)法)



 Zeta電位測(cè)定范圍:-200~+200mV(電泳多普勒法)



◆ 分子量測(cè)定范圍:1×10 3~2×10 7 Da(Debye Plot法)



 從ppm到百分之幾十的超寬樣品濃度范圍,在原液狀態(tài)下取樣測(cè)定優勢。



◆ Horiba*的微量電泳樣品池善謀新篇,可以測(cè)定僅100μl 的Zeta電位



 的雙光路系統(tǒng)設(shè)計(jì)(90°和173°雙檢測(cè)器)適用于更寬濃度范圍的樣品測(cè)量



◆ *的檢測(cè)池清潔程度測(cè)定,保證了結(jié)果的準(zhǔn)確性結構。



◆ 操作簡(jiǎn)單快捷重要的作用,取樣后僅需按測(cè)定開始按鈕




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