涂鍍層測(cè)厚儀校準(zhǔn)minitest2100
MINITEST1100/2100有以下五種不同的校準(zhǔn)方式:標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn):適合平整光滑的表面和大致的測(cè)量。例如支撐能力，低于一點(diǎn)校準(zhǔn)精度要求的場(chǎng)合資源優勢。
●一點(diǎn)校準(zhǔn):置零，不用標(biāo)準(zhǔn)箔特征更加明顯。用于允許誤差超過(guò)3%的場(chǎng)合估算。

涂鍍層測(cè)厚儀校準(zhǔn)minitest2100

校準(zhǔn)方式
MINITEST1100/2100有以下五種不同的校準(zhǔn)方式:標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn):適合平整光滑的表面和大致的測(cè)量。例如數字技術，低于一點(diǎn)校準(zhǔn)精度要求的場(chǎng)合奮戰不懈。
●一點(diǎn)校準(zhǔn):置零，不用標(biāo)準(zhǔn)箔措施。用于允許誤差超過(guò)3%的場(chǎng)合大大縮短。
●二點(diǎn)校準(zhǔn):置零， 用一片標(biāo)準(zhǔn)箔。用于誤差范圍在1-3%( 大)之間的測(cè)量更默契了。探頭誤差范圍應(yīng)另考慮先進技術。
● 二點(diǎn)校準(zhǔn):置零，用二片標(biāo)準(zhǔn)箔不合理波動。用于以下場(chǎng)合:
A).在粗糙表面測(cè)讀;
B).厚度在兩片箔厚之間的平滑表面的精確測(cè)量宣講手段。
透過(guò)厚度未知涂層的校準(zhǔn):用箔校準(zhǔn)(僅適用于F06、F1.6積極拓展新的領域、 F3配套設備、作F用的FN2測(cè)頭,以及F1.6/90、F2/90相對開放、F10推進高水平、F20、F50探頭)拓展應用。如果被測(cè)樣本在校準(zhǔn)時(shí)生產創效，沒(méi)有無(wú)涂層的用于比較的樣本，應(yīng)當(dāng)采用此法校準(zhǔn)管理。
注意:校準(zhǔn)箔是指所有的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)優化上下，包括2mm，5mm模樣，10mm 厚的標(biāo)準(zhǔn)板事關全面。
 

保存校準(zhǔn)值
儀器在條件下校準(zhǔn)，其校準(zhǔn)值即存入內(nèi)存讓人糾結，直到再次校準(zhǔn)規模。若使用同一個(gè)探頭，要改變校準(zhǔn)值基石之一，只需重新做一次校準(zhǔn)聯動，這樣就自動(dòng).刪除先前的校準(zhǔn)值，存入新值備用共同努力。注意:在校準(zhǔn)過(guò)程中出現(xiàn)下列情況必須重新校準(zhǔn):
●讀入錯(cuò)誤讀數(shù)
●輸入錯(cuò)誤命令
●儀器關(guān)機(jī)

校準(zhǔn)舉例
精確的測(cè)量必須校準(zhǔn)行業內卷，校準(zhǔn)樣本越接近被測(cè)樣本，校準(zhǔn)和測(cè)量就越準(zhǔn)確逐漸完善。例如:如果被測(cè)樣本是一個(gè)直徑為6mm的低碳鋼柱參與能力，那么無(wú)涂層校準(zhǔn)樣本的直徑和材料也必須相同。校準(zhǔn)樣本必須在下列幾點(diǎn)上與被測(cè)樣本相符:
●表面曲率半徑
●基體材料
●基體厚度
●被測(cè)面積
校準(zhǔn)樣本上是目前主流，校準(zhǔn)點(diǎn)位置必須與產(chǎn)品的測(cè)量點(diǎn)一致充分發揮。如果測(cè)量小樣本或邊角位置，建議用精密支架定位充分發揮。