CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長度;2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性廣度和深度、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;
CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長度;2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性深入交流、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利 用50、44和40mm 三個(gè)臺(tái)階孔測定斜探頭分 辨力加強宣傳。
CSK-IA 試塊是我國承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn) NB/T47013 中 規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試塊臺上與臺下。
CSK-IA 試塊使用說明及測試方法
水平線性(時(shí)基線性)的檢驗(yàn)
水平線性又稱時(shí)基線性，或掃描線性技術發展。是指輸入到超聲檢測儀中的不 同回波的時(shí)間間隔與超聲檢測儀顯示屏?xí)r基線上回波的間隔成正比關(guān)系的 程度集聚效應。水平線性影響缺陷位置確定的準(zhǔn)確度集成。水平線性的測試可利用任何 表面光滑、厚度適當(dāng)確定性，并具有兩個(gè)相互平行的大平面的試塊更加廣闊，用縱波直探 頭獲得多次回波，并將規(guī)定次數(shù)的兩個(gè)回波調(diào)整到與兩端的規(guī)定刻度線對(duì) 齊講故事，之后非常完善，觀察其他的反射回波位置與水平刻度線相重合的情況。其測試 步驟如下:
(1)將直探頭置于 CSK-IA 試塊上全面革新，對(duì)準(zhǔn) 25mm 厚的大平底面作用， 如圖 a 所示
(2)調(diào)整微調(diào)、水平或脈沖移位等旋鈕行業分類，使示波屏上出現(xiàn)五次底波 B1 到 B5技術特點，且使 B1 對(duì)準(zhǔn) 2.0，B5 對(duì)準(zhǔn) 10.0發展邏輯，如圖 b 所示
(3)觀察和記錄 B2凝聚力量、B3、B4 與水平刻度值 4.0聽得進、6.0新的力量、8.0 的偏差 值 a2、a3更多可能性、a4去創新。
(4)計(jì)算水平誤差:公式
式中，amax——a2緊迫性，a3結構，a4 中大者 b——示波屏水平滿刻度值
縱波探測范圍和掃描速度的調(diào)整
在利用縱波探傷時(shí)，可以利用試塊的已知厚度來調(diào)整探測范圍和掃描 速度高效，此過程我往往和檢驗(yàn)時(shí)基線性同步進(jìn)行溝通協調。當(dāng)探測范圍在 250mm 以 內(nèi)時(shí)，可將探頭置于 25mm 厚的大平底上體系，使四次底部回波位于刻度四保障性， 十次底部回?fù)芪挥诳潭仁瑒t刻度十就代表實(shí)際探測聲程為 250mm責任製。當(dāng)探測聲程范圍大于 250mm 時(shí)十分落實，可將探頭置于如圖的 B 或 C 處，使各次底 波位于相應(yīng)的刻度處規則製定，此時(shí)起始零點(diǎn)亦同時(shí)得到修正設施。
調(diào)整橫波掃描速度和探測范圍
由于縱波的聲程 91mm 相當(dāng)于橫波聲程 50mm，因此可以利用試塊 上 91mm 來調(diào)整橫波的檢測范圍和掃描速度堅定不移。例如橫波1:1組合運用，先用直探頭 對(duì)準(zhǔn) 91 底面更讓我明白了，是 B1、B2 分別對(duì)準(zhǔn) 50積極、100探索，然后換上橫波探頭并對(duì)準(zhǔn) R100 圓弧面，找到高回波產業，并調(diào)至100 即可滿意度。
測定儀器與直探頭遠(yuǎn)場分辨力
(1)抑制旋鈕調(diào)至“0”，探頭置于如圖所示位置狀況，左右移動(dòng)探頭機製性梗阻， 使顯示屏上出現(xiàn) 85機製、91全過程、100 三個(gè)反射回波 A、B探討、C 如圖所示不負眾望，則波峰 和波谷的分貝差 20Lg(a/b) 表示分辨力。
(2)NB/T47013-2015 中規(guī)定調解製度，直探頭遠(yuǎn)場分辨力大于等于 20dB精準調控。
測定儀器與斜探頭的分辨力
(1)探頭置于如圖所示位置，對(duì)準(zhǔn) 50mm應用的因素之一、44mm解決、40mm 階梯孔， 使示波屏上出現(xiàn)三個(gè)反射波敢於監督。
(2)平行移動(dòng)探頭并調(diào)節(jié)儀器幅度，使 50mm、44mm 回波等高重要的作用，如圖所示貢獻， 其波峰和波谷分別為 h1、h2穩中求進，其分辨力為
X = 20Lgh1/h2(dB)
NB/T47013-2015 中規(guī)定統籌，斜探頭的遠(yuǎn)場分辨力大于等于 12 分貝。
測定斜探頭入射點(diǎn)
將探頭置于圖示位置協同控製，向 R100mm 的圓弧發(fā)射超聲波單產提升，前后移動(dòng)探頭， 直到 R100mm 圓弧面反射波達(dá)到高點(diǎn)試驗，此時(shí)與 CSK-1A 試塊側(cè)面標(biāo) 線中心點(diǎn)“0”相對(duì)應(yīng)的探頭契塊那一點(diǎn)即為探頭入射點(diǎn)勞動精神。
測定斜探頭K值
根據(jù)探頭折射角的大小，將探頭置于試塊的不同位置進(jìn)行測量切實把製度，如圖所示保供。波形圖同于入射點(diǎn)波形圖自行開發。
測量時(shí)，探頭應(yīng)放正使波束中心線與試塊側(cè)面平行責任，前后移動(dòng)探頭應用情況， 找到 50mm 孔或 1.5mm 孔的高反射波。此時(shí)組建，聲束中心線必然與入射 點(diǎn)和圓心之間的連線相重合表現，即聲束中心線垂直于孔表面。這時(shí)深刻變革，試塊上 與入射點(diǎn)相應(yīng)的角度線所標(biāo)的值即為該斜探頭的 K 值結論。
垂直線性的檢驗(yàn)
將探傷儀的抑制和補(bǔ)償旋鈕置于“0”或“關(guān)”用直探頭放置在圖中 A 或 B 位置。并保證探頭與試塊之間有良好的聲耦合質生產力。
調(diào)整衰減器使試塊底波高度為熒光屏的滿刻度適應性強，此時(shí)必須有 30 分貝的 衰減量。然后每衰減 2 分貝用百分率讀出反射波高度先進的解決方案，直到 26 分貝拓展，在 判斷 30 分貝時(shí)反射波是否存在，將結(jié)果記錄表中宣講活動。評(píng)定垂直線性時(shí)不斷進步，以反 射波高度的理想波高為基準(zhǔn)，以測試值與基準(zhǔn)值的大正偏差(+d)及 大負(fù)偏差(-d)之和來判定垂直線性效率。
D=[|+d|+|-d|]×%
盲區(qū)的估計(jì)
盲區(qū)是指小的探測距離規模，測試方法是:將直探頭置于探頭位置圖中 D、 E 位置講道理，測量 50mm 圓孔反射波發展目標奮鬥。從而可以估計(jì)出盲區(qū)小于等于 5mm 或 大于等于 10mm，或者介于兩者之間全面革新。
大穿透能力估計(jì)
將直探頭置于探頭位置圖中 F 位置作用，將儀器個(gè)靈敏度旋鈕均置于大， 測試試塊中有機(jī)玻璃塊反射波次數(shù)和后一次反射波高度建設項目。以此來估計(jì) 大穿透力最為突出，借以比較探傷儀器及探頭組合性能隨時(shí)間變化的情況。
探測靈敏度的調(diào)整
根據(jù) AVG 原理相結合，在探頭探傷時(shí)可把 R100mm 圓弧面視為大平底反射高效化， 以此來調(diào)整探測靈敏度。直探頭探傷時(shí)可把厚度為25/100mm 的幾個(gè)側(cè)面 視為大平底處理為產業發展，以此來調(diào)整靈敏度範圍和領域。另外，也可以根據(jù)探傷要求，儀測 量 1.5mm 橫通孔反射波來確定靈敏度更高要求。
測定斜探頭聲束軸線偏離
在 CSK-IA 試塊上厚 25mm 的平面上越來越重要的位置，使聲束指向棱邊，對(duì)于 K 值小于等于 1 的探頭共同學習，聲束經(jīng)底面反射指向上棱角;K 值大于1 的聲束指 向下棱角順滑地配合，前后左右擺動(dòng)探頭，使所測棱邊端角回波幅度高效高，固定探頭 不動(dòng)前沿技術，然后用量角器或適當(dāng)?shù)姆椒y量斜探頭幾何中心聲束軸線與棱邊法 線的夾角(例如測量探頭斜面與試塊端面垂直線的夾角)，即為聲束軸線 偏斜角性能。應(yīng)當(dāng)注意:斜探頭的聲束擴(kuò)散角較大時(shí)多種方式，可能影響到大回波的 探測，以致可能產(chǎn)生較大的測量誤差技術創新。
