GDAT-A 介質損耗介電常數(shù)測試儀
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- 公司名稱 北京北廣精儀儀器設備有限公司
- 品牌
- 型號 GDAT-A
- 所在地 北京市
- 廠商性質 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2021/4/27 14:59:40
- 訪問次數(shù) 291
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介質損耗介電常數(shù)測試儀 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描資料、自動調諧搜索功能廣泛應用。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧橫向協同,數(shù)碼化電容調諧哪些領域。
介電常數(shù)又叫介質常數(shù),介電系數(shù)或電容率不斷創新,它是表示絕緣能力特性的一個系數(shù)建立和完善。所以理論上來說,介電常數(shù)越大參與水平,絕緣性能就越好大型。
注:這個性質不是jue對成立的。
電介質經(jīng)常是絕緣體明確相關要求。其例子包括瓷器(陶器)重要意義,云母,玻璃深化涉外,塑料體系,和各種金屬氧化物。有些液體和氣體可以作為好的電介質材料開展試點。干空氣是良好的電介質攜手共進,并被用在可變電容器以及某些類型的傳輸線。蒸餾水如果保持沒有雜質的話是好的電介質進一步,其相對介電常數(shù)約為80大部分。
介質損耗(dielectric loss )指的是絕緣材料在電場作用下強大的功能,由于介質電導和介質極化的滯后效應實際需求,在其內部引起的能量損耗解決方案。也叫介質損失,簡稱介損交流。
介質損耗因數(shù)(dielectric loss factor)指的是衡量介質損耗程度的參數(shù)基礎。
介質損耗介電常數(shù)測試儀 技術參數(shù):
1.Q值測量
a.Q值測量范圍:2~1023。
b.Q值量程分檔:30還不大、100高產、300、1000發揮作用、自動換檔或手動換檔良好。
c.標稱誤差
頻率范圍(100kHz~10MHz): 頻率范圍(10MHz~160MHz):
固有誤差:≤5%±滿度值的2% 固有誤差:≤6%±滿度值的2%
工作誤差:≤7%±滿度值的2% 工作誤差:≤8%±滿度值的2%
2.電感測量范圍:4.5nH~7.9mH
3.電容測量:1~205
主電容調節(jié)范圍:18~220pF
準確度:150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1%
注:大于直接測量范圍的電容測量見后頁使用說明
4. 信號源頻率覆蓋范圍
頻率范圍CH1:0.1~0.999999MHz, CH2: 1~9.99999MHz,
CH3:10~99.9999MHz, CH1 :100~160MHz,
5.Q合格指示預置功能: 預置范圍:5~1000銘記囑托。
6.B-測試儀正常工作條件
a. 環(huán)境溫度:0℃~+40℃引領;
b.相對濕度:<80%;
c.電源:220V±22V示範,50Hz±2.5Hz應用前景。
7.其他
a.儀器配置:
高配Q表 一只
試驗電極 一只 (c類)
電感 一套(9只)
電源線 一條
說明書 一份
合格證 一份
保修卡 一份
b. 電感:
線圈號 測試頻率 Q值 分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz,50MHz 233運行好,211 0.9 0.125μH
c. 輔橋的技術特性:
工作電壓±12V首次,50Hz
輸入阻抗>1012 W
輸出阻抗>0.6 W
放大倍數(shù)>0.99
不失真跟蹤電壓 0~12V(有效值)
d. 指另裝置的技術特性:
工作電壓±12V
在50Hz時電壓靈敏度不低于1X10-6V/格, 電流靈敏度不低于2X10-9A/格
二次諧波 減不小于25db
三次諧波 減不小于50db
介質損耗介電常數(shù)測試儀 特點:
◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術部署安排,使測Q分辨率至0.1Q搖籃,使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試推廣開來。
◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH深入,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值重要的,測試頻率開展研究,調諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制相互融合。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號首要任務。獨立信號 源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源不同需求。
◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求發展。
儀器標準:GB/T 1409-2006代替 GB/T 1409-1988
測量電氣絕緣材料在工頻、音頻總之、高頻(包括米波波長在內)
下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法
Recommended methods for the determination of the permittivity
and dielectric dissipation fator of electrical insulating materials
at power,audio and r
本標準規(guī)定了在15 Hz-300 MHz的頻率范圍內測量電容率日漸深入、介質損耗因數(shù)的方法,并由此計算某
些數(shù)值 ,如損耗指數(shù)互動式宣講。本標準中所敘述的某些方法效高性,也能用于其他頻率下測量
本標準適用于測量液體、易熔材料以及固體材料自動化。測試結果與某些物理條件有關提升,例如頻率、溫度不折不扣、
濕度支撐能力,在特殊情況下也與電場強度有關
有時在超過 1 000 V的電壓下試驗,則會引起一些與電容率和介質損耗因數(shù)高效利用。
介質損耗:絕緣材料在電場作用下特征更加明顯,由于介質電導和介質極化的滯后效應,在其內部引起的能量損耗講理論。也叫介質損失數字技術,簡稱介損。在交變電場作用下市場開拓,電介質內流過的電流相量和電壓相量之間的夾角(功率因數(shù)角Φ)的余角δ稱為介質損耗角措施。
概念:
電介質在外電場作用下,其內部會有發(fā)熱現(xiàn)象要落實好,這說明有部分電能已轉化為熱能耗散掉緊密相關,電介質在電場作用下,在單位時間內因發(fā)熱而消耗的能量稱為電介質的損耗功率先進技術,或簡稱介質損耗(diclectric loss)培訓。介質損耗是應用于交流電場中電介質的重要品質指標之一。介質損耗不但消耗了電能宣講手段,而且使元件發(fā)熱影響其正常工作重要工具。如果介電損耗較大,甚至會引起介質的過熱而絕緣破壞配套設備,所以從這種意義上講更優質,介質損耗越小越好。
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