HY（IC）IC卡動態(tài)彎扭試驗機

技 術 參 數(shù)

配  置

本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲不要畏懼、扭矩的試驗; *符合以上標準服務為一體。

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W

測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期：1~9999次                                      

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°，總扭曲角度30°

長邊位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊小位移量為2mm±0.50mm逐漸顯現，

短邊位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊小位移量為1mm±0.50mm全會精神，

夾具安裝尺寸*按照國家標準執(zhí)行。

儀器加罩前的尺寸是：

長：74.5cm拓展基地，寬：38cm  高：30cm

儀器加罩后的尺寸是：

長：78cm先進技術，寬：42.5cm  高：30cm

1、 IC卡動態(tài)彎扭試驗機主機一臺不合理波動；

2宣講手段、配置：

1）常用調試工具一套：

2）中國臺灣STK交流調速電機系統(tǒng)一套；

3）中國臺灣衡翼高精度齒輪減速系統(tǒng)一套表示；

4）高精度光電計數(shù)器一套

4）中國臺灣衡翼高精度計數(shù)系統(tǒng)一套全面闡釋；

  卡動態(tài)彎扭試驗機 用于檢測磁條卡，IC芯片卡競爭力所在，集成電路卡引人註目，等卡的彎曲和扭曲性能測試。