HY（IC）IC卡動態(tài)彎扭試驗機

技 術(shù) 參 數(shù)

配  置

本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1傳承，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗; *符合以上標準導向作用。

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W

測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期：1~9999次                                         

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°方案，總扭曲角度30°

長邊位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊小位移量為2mm±0.50mm，

短邊位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊小位移量為1mm±0.50mm十大行動，

夾具安裝尺寸*按照國家標準執(zhí)行左右。

儀器加罩前的尺寸是：

長：74.5cm背景下，寬：38cm  高：30cm

儀器加罩后的尺寸是：

長：78cm，寬：42.5cm  高：30cm

1可靠保障、 IC卡動態(tài)彎扭試驗機主機一臺自然條件；

2、配置：

1）常用調(diào)試工具一套：

2）中國臺灣STK交流調(diào)速電機系統(tǒng)一套開展；

3）中國臺灣衡翼高精度齒輪減速系統(tǒng)一套互動互補；

4）高精度光電計數(shù)器一套

4）中國臺灣衡翼高精度計數(shù)系統(tǒng)一套；

3意向、產(chǎn)品用途：

   IC卡動態(tài)彎扭試驗機用于檢測磁條卡意料之外，IC芯片卡，集成電路卡形式，等卡的彎曲和扭曲性能測試置之不顧。