薄膜高壓介電常數測試儀裝置：
2.3.1 平板電容器極片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率：0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性： 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圓筒電容器可調范圍：±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 裝置插頭間距：25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4
薄膜高壓介電常數測試儀技術指標：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試使用。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε測量精度（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005可持續，ε：±2%
工作頻率范圍：50kHz～50MHz 四位數顯主要抓手，壓控振蕩器
Q值測量范圍：1～1000三位數顯，±1Q分辨率
可調電容范圍：40～500 pF ΔC±3pF
電容測量誤差：±1%±1pF
Q表殘余電感值：約20nH
薄膜高壓介電常數測試儀特點：
◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術構建，使測Q分辨率至0.1Q創新科技，使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試共創輝煌。
◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH具有重要意義，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數：Q值大部分，測試頻率強大的功能，調諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制解決方案。
◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號優勢。獨立信號 源輸出口善謀新篇，所以本機又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求便利性。
薄膜高壓介電常數測試儀工作頻率范圍是10kHz～160MHz,它能完成工作頻率內材料的高頻介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試方法。
本儀器中測試裝置是由平板電容器和測微圓筒線性電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品提供有力支撐，配用Q表作為指示儀器切實把製度。
絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過公式計算得到。
同樣自行開發，由測微圓筒線性電容器的電容量讀數變化進行部署，通過公式計算得到介電常數。
標簽：
介電常數測試儀
高壓介電常數測試儀
塑料介電常數測試儀
高頻介電常數測試儀
