氣溶膠顆粒的差分電遷移率分級與分析方法高效流通,已被廣泛用于納米級到微米級的各類氣溶膠顆粒的測量調解製度。同時,帶電顆粒的電遷移率分級可獲得粒度可知的單分散顆粒功能,并用于校準其他儀器應用的因素之一。該方法基于簡單的物理原理,已成為氣溶膠技術(shù)領(lǐng)域的重要組成部分預期,如氣溶膠儀器敢於監督、基于氣溶膠的材料生產(chǎn)、
半導體工業(yè)生產(chǎn)潔凈環(huán)境控制結構、大氣氣溶膠科學重要的作用、工程化納米顆粒表征等。
然而規模最大,為準確使用電遷移率分級與分析穩中求進,需充分注意以下問題:滑移修正系數(shù)、附著系數(shù)最深厚的底氣、粒度相關(guān)的氣溶膠顆粒粒度電荷分布協同控製,以及將測量的遷移率分布反演為氣溶膠分布粒度方法振奮起來。因此,有必要建立運用差分電遷移率分析方法對氣溶膠顆粒分級的標準利用好,為顆粒粒度和數(shù)量濃度的測量提供一種恰當?shù)馁|(zhì)量控制方法深入各系統。
近日,由江蘇省顆粒學會 系列、南京威普粉體工程有限公司 作用、淮陰工學院 、中國計量大學 進行部署、南京理工大學 責任、蘇顆翍们闆r?萍寄暇┯邢薰镜葐挝黄鸩荼Wo好,TC168(全國顆粒表征與分檢及篩網(wǎng)標準化技術(shù)委員會)歸口的國家標準計劃《粒度分布的測定 氣溶膠粒子差分電遷移率分析法》征求意見稿已編制完成,現(xiàn)公開征求意見表現。
本文件提供了通過分析氣溶膠顆粒的電遷移率測定其粒度分布的方法與要求特點,通常稱為氣溶膠顆粒差分電遷移率分析法,其適用于測量粒度范圍為1nm-1μm的顆粒結論。同時和諧共生,該文件中還包括不確定度的計算方法,但不涉及特定儀器設(shè)計或有特殊要求的粒度分布測量適應性強。
并且該文件不包括在特定標準或指南中定義的差分電遷移率分析系統(tǒng)(DMAS)應(yīng)用的技術(shù)要求和規(guī)范技術交流,例如道路車輛應(yīng)用(ISO/TC 22)、環(huán)境測量(ISO/TC 146)或納米技術(shù)(ISO/TC 229)拓展。
系統(tǒng)與設(shè)備:
基于差分電遷移率分析法創造更多,測量粒度分布的完整DMAS通常具有以下基本組件:預調(diào)節(jié)器;荷電調(diào)節(jié)器不斷進步,即顆粒荷電調(diào)節(jié)器工藝技術;具有流量控制和高壓控制的DEMC;氣溶膠顆粒檢測器規模;具有數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)分析的系統(tǒng)控制器(通常是計算機的內(nèi)置固件或?qū)S密浖?近年來。
定期測試和校準:
遵循相關(guān)的校準流程,能保障 DMAS 粒度與濃度測量誤差在可控范圍內(nèi)發展目標奮鬥。該流程只能由專業(yè)人員操作技術先進,并應(yīng)包含零點測試、流量計校準延伸、電壓校準情況正常、顆粒荷電調(diào)節(jié)器測試、粒度測量校準技術特點、粒度精度測試和數(shù)量濃度校準等項目提高鍛煉。
在固定電壓下使用 DEMC 生成選定粒度的顆粒:
包括多電荷顆粒避免方法發展邏輯、使用認證球體進行粒度校準、鞘氣流設(shè)定有所提升、總不確定度的計算等為產業發展。
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