近日,由北京卓立漢光儀器有限公司自主研發(fā)的全自動(dòng)顯微角分辨光譜及成像系統(tǒng)在客戶實(shí)驗(yàn)室順利完成安裝調(diào)試試驗,正式交付使用勞動精神!該系統(tǒng)的成功落地,標(biāo)志著國(guó)產(chǎn)高*光譜設(shè)備在微納光子學(xué)製度保障、量子材料等前沿科研領(lǐng)域的技術(shù)服務(wù)能力再上新臺(tái)階預下達!
系統(tǒng)核心亮點(diǎn):六大優(yōu)勢(shì)賦能科研創(chuàng)新
1. 全電動(dòng)化操作意見征詢,穩(wěn)定高效易上手
o 系統(tǒng)采用全電動(dòng)化設(shè)計(jì)提升,支持樣品移動(dòng)、聚焦的必然要求、光路切換應用前景、功率調(diào)節(jié)、像面與傅里葉面變換等操作一鍵完成運行好,無(wú)需手動(dòng)干預(yù)首次,大幅提升實(shí)驗(yàn)效率
o 集成高精度電控組件,角度分辨率*低可達(dá)0.028°(不同規(guī)格探測(cè)器會(huì)有差別),確保數(shù)據(jù)穩(wěn)定性和重復(fù)性搖籃,即使長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行也能保持優(yōu)異性能
2. 自研顯微鏡架構(gòu)技術,光通量高
o 光路大量采用2英寸光學(xué)元反射鏡和透鏡,*大程度保留大角度光譜信息
3. 超大樣品空間推動,兼容原位測(cè)試
o 配備三維電控樣品臺(tái)(行程≥50×50×40 mm)相對較高,加上自研顯微架構(gòu),支持大尺寸樣品及復(fù)雜結(jié)構(gòu)測(cè)試
o 可靈活耦合變溫臺(tái)(-196℃至高溫)信息、探針臺(tái)相關、高壓模塊等原位裝置,滿足極*條件下材料光學(xué)性質(zhì)動(dòng)態(tài)研究需求豐富內涵。
4. 多功能光譜探測(cè)生產效率,擴(kuò)展性強(qiáng)
o 基礎(chǔ)功能覆蓋白光角分辨光譜(透射/反射模式可選)與熒光角分辨成像,精準(zhǔn)解析光子晶體適應性、超構(gòu)表面等結(jié)構(gòu)的色散關(guān)系節點。
o 支持升級(jí)拉曼光譜、二次諧波(SHG)落地生根、暗場(chǎng)散射的特點、電動(dòng)偏振、光電流有效保障,熒光壽命等模塊大數據,實(shí)現(xiàn)多物理場(chǎng)耦合分析,滿足交叉學(xué)科研究需求講實踐。
5. 寬光譜覆蓋數字技術,靈活適配升級(jí)
o 標(biāo)準(zhǔn)光譜范圍覆蓋400-1000nm,可選配紫外(<400 nm)及紅外(1000-1700 nm)擴(kuò)展模塊為產業發展,適應(yīng)鈣鈦礦範圍和領域、量子點(diǎn)、二維材料等多樣化樣品測(cè)試高效利用。
6. 全國(guó)產(chǎn)化制造特征更加明顯,服務(wù)無(wú)憂
o 核心部件自主研發(fā),供應(yīng)鏈自主可控講理論,貨期大幅縮短的可能性,規(guī)避進(jìn)口設(shè)備加征關(guān)稅以及出口審查風(fēng)險(xiǎn),性價(jià)比顯著提升服務為一體。
o 提供全程技術(shù)支持問題,包含安裝培訓(xùn)、定期維護(hù)及定制化開(kāi)發(fā)全會精神,確保用戶“買(mǎi)得放心系統穩定性、用得順心”拓展基地。
應(yīng)用場(chǎng)景:解鎖前沿研究的“多面手”
• 微納光子學(xué):超構(gòu)表面光學(xué)響應(yīng)分析、光子晶體能帶測(cè)量實力增強。
• 低維材料:量子點(diǎn)熒光空間分布成像體系流動性、二維材料激子極化激元研究。
• 光電器件:LED/激光器發(fā)光角度優(yōu)化帶來全新智能、光伏材料界面光吸收特性表征實現了超越。
• 交叉學(xué)科:生物分子熒光定向探測(cè)、能源材料原位光學(xué)性能監(jiān)測(cè)去完善。
即刻體驗(yàn)橋梁作用,助力科研!
卓立漢光常備樣機(jī)求索,開(kāi)放免費(fèi)測(cè)樣服務(wù)讓人糾結!無(wú)論您是高校課題組、企業(yè)研發(fā)中心結構,還是第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)管理,均可預(yù)約實(shí)地考察或寄送樣品優化上下,親驗(yàn)系統(tǒng)性能能力建設。
國(guó)產(chǎn)高*光譜,卓立智造生產體系!
北京卓立漢光儀器有限公司深耕光電領(lǐng)域20余年服務,以技術(shù)創(chuàng)新為核心,持續(xù)為科研與工業(yè)用戶提供可靠解決方案能力和水平。期待與您攜手指導,共探光學(xué)奧秘!
免責(zé)聲明
第二十一屆北京分析測(cè)試學(xué)術(shù)報(bào)告會(huì)暨展覽會(huì)(BCEIA 2025)
展會(huì)城市:北京市展會(huì)時(shí)間:2025-09-10