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XRF-2000 X射線測(cè)厚儀
點(diǎn)擊次數(shù)：511 發(fā)布時(shí)間：2014-10-29
X射線測(cè)厚儀（XRF-2000）
X-射線鍍層測(cè)厚儀的特征：
1.可測(cè)量電鍍開展研究、蒸鍍姿勢、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。
2.可通過(guò)CCD攝像機(jī)來(lái)觀察及選擇微小面積以進(jìn)行鍍層厚度的測(cè)量質生產力，避免直接接觸或破壞被測(cè)物適應性強。
3.備有250個(gè)以上的鍍層厚度測(cè)量和成分分析時(shí)所需的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
韓國(guó)Micro Pioneer XRF-2000 系列X射線測(cè)厚儀（全新*）
XRF2000能提供金屬鍍層厚度的測(cè)量先進的解決方案，同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析拓展，不單性能*，而且價(jià)錢(qián)*宣講活動，同比其他牌子相同配置的機(jī)器不斷進步，XRF2000為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘效率，便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果規模，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)適應性，鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)節點，十字線自動(dòng)調(diào)整。超大／開(kāi)放式的樣品臺(tái)落地生根，可測(cè)量較大的產(chǎn)品的特點。是線路板、五金電鍍有效保障、首飾大數據、端子等行業(yè)的≈v實踐？蓽y(cè)量各類(lèi)金屬層數字技術、合金層厚度等。
可測(cè)元素范圍：鈦（Ti）–鈾（U）原子序 22–92.
準(zhǔn)直器：固定種類(lèi)大惺袌鲩_拓。嚎蛇x圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自動(dòng)種類(lèi)大写胧?。嚎蛇x圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
電腦系統(tǒng)：DELL品牌電腦，17寸液晶顯示器各項要求，惠普彩色打印機(jī)
綜合性能：鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析統(tǒng)計(jì)功能
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