要準確測試含有微米和納米這種“跨界”樣品的粒度分布情況正常，是一件困難的事：一是需要有一臺既能測微米行業分類、又能側(cè)納米的粒度儀，這一點就不容易滿足提高鍛煉；二是要對樣品進行充分分散發展邏輯，包括選擇合適的介質(zhì)、合適的分散劑和適當?shù)耐饬Ψ稚⒎椒ㄑu高點項目；三是要對測試結(jié)果進行合理性驗證為產業發展，這一點及其重要。近有所增加，百特實驗室用Bettersize2600激光粒度儀測了一個碳化硅樣品各項要求，粒度分布圖如下：
開始，我們對這個結(jié)果產(chǎn)生了疑惑：以往的碳化硅樣品的粒度分布圖形不都是很漂亮的嗎越來越重要的位置？為什么這個碳化硅會是這樣的峰形呢新技術？前面的峰到底有沒有呢？測的數(shù)據(jù)對嗎順滑地配合？準嗎深入？帶著這些疑惑，我們對這個碳化硅樣品進行處理前沿技術，通過配置一定濃度的懸浮液(下圖左)基礎，靜置24小時后(下圖右)，來看到底有沒有納米顆粒影響力範圍。
我們發(fā)現(xiàn)大局，靜置24小時后的懸浮液有明顯的分層現(xiàn)象，但上清液呈乳白透明狀邁出了重要的一步，說明上清液中還有小顆粒有序推進。我們通過Stokes沉降定律計算，這些乳白透明狀的顆粒大直徑不大于1μm需求。我們?nèi)∩锨逡簣远ú灰?，用Bettersize2600激光粒度儀進行粒度分布測試組合運用，結(jié)果是D10=41nm，D50=72nm迎難而上，D90=371nm積極，Dmax=900nm。說明這個碳化硅樣品是納米和微米顆粒的混合物堅持先行。初步判斷圖1的結(jié)果是正確的產業。
為了更進一步考察，我們對這個碳化硅樣品用場發(fā)射掃描電鏡進行拍照情況較常見，看看是否存在納米顆粒可持續。從不同倍數(shù)的電鏡照片看，大顆粒有10μm左右生產體系，100納米及以下的顆粒(紅圈內(nèi))也確確實實存在的服務，而且含量非常多。證明Bettersize2600激光粒度儀的測試結(jié)果(圖1)是正確的能力和水平。
從這個樣品的測試和驗證過程證明覆蓋，Bettersize2600激光粒度儀能準確測量納米和微米混合樣品的粒度分布。從Bettersize2600激光粒度儀的設(shè)計來看也具備這個能力研究，因為它采用了正反傅里葉結(jié)合光路高效，能準確探測前向、側(cè)向和后向散射光提高，實現(xiàn)了全角度測量體系，從而保證了細顆粒端的測量精度。
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