電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時緊迫性，因設(shè)計不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問題有兩類:

    di一類是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo)更適合，生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求多元化服務體系；

    第二類是潛在的缺陷，這類缺陷不能用一般的測試手段發(fā)現(xiàn)擴大公共數據，而需要在使用過程中逐漸地被暴露深度，如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定核心技術體系、焊接空洞開拓創新、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。

   一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運行一千個小時左右才能全部被激活（暴露）必然趨勢。顯然促進善治，對每只元器件測試一千個小時是不現(xiàn)實的，所以需要對其施加熱應(yīng)力和偏壓多樣性，例如進(jìn)行高低溫功率應(yīng)力試驗發揮效力，來加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的明顯、電的安全鏈、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力，模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境創新為先，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)真正做到，使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn)，盡快使產(chǎn)品通過失效浴盆特性初期階段創新延展，進(jìn)入高可*的穩(wěn)定期強化意識。電子產(chǎn)品的失效曲線。又叫基本情況，用于測試電子電器產(chǎn)品的高溫老化能力現場，經(jīng)高溫老化測試后產(chǎn)品質(zhì)量。老化后進(jìn)行電氣參數(shù)測量力量，篩選剔除失效或變值的元器件探討，盡可能把產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用之前不負眾望。

   這種電子產(chǎn)品高低溫老化測試為提高電子產(chǎn)品可靠度和延長產(chǎn)品使用壽命，對穩(wěn)定性進(jìn)行必要的考核合規意識，以便剔除那些有“早逝”缺陷的潛在“個體”（元器件）密度增加，確保整機(jī)優(yōu)xiu品質(zhì)和期望壽命的工藝就是高低溫老化的原理。