植物根系分析儀系統(tǒng) 型號(hào)：MHY-28099
MHY-28099型植物根系分析儀系統(tǒng)用于對(duì)洗凈的植物根系進(jìn)行多參數(shù)快速分析
1效果、MHY-28099型植物根系分析儀系統(tǒng)可分析測(cè)量：
1)根總長(zhǎng)；
2)根平均直徑；
3)根總面積積極回應；
4)根總體積；
5)根尖計(jì)數(shù)又進了一步；
6)分叉計(jì)數(shù)多種場景；
7)交疊計(jì)數(shù)；
8)根直徑等級(jí)分布參數(shù)規劃；
9)可不等間距地自定義分段直徑擴大公共數據，自動(dòng)測(cè)量各直徑段長(zhǎng)度、投影面積帶動擴大、表面積核心技術體系、體積 等，及其分布參數(shù)持續發展；
10)根尖段長(zhǎng)分布必然趨勢；
11)能進(jìn)行根系的顏色分析，確定出根系存活數(shù)量創造性，輸出不同顏色根系的直徑發展的關鍵、長(zhǎng)度、投影面積規模設備、表面積真諦所在、體積；
12)能進(jìn)行根系的拓?fù)浞治龈偁幜?，自?dòng)確定根的連接數(shù)充分、關(guān)系角等，可單獨(dú)自動(dòng)分析主根或任意一支側(cè)根的長(zhǎng)度和分叉數(shù)等集聚；自動(dòng)分析根系分級(jí)伸展的等級(jí)分布情況競爭力，可達(dá)到5級(jí)側(cè)根的自動(dòng)分析；
13)可單獨(dú)顯示標(biāo)記根系的任意直徑段相應(yīng)各參數(shù)(分檔數(shù)發展基礎、檔直徑范圍任意可改)兩個角度入手；
14)大批量的全自動(dòng)根系分析，可對(duì)各自動(dòng)分析結(jié)果圖進(jìn)行編輯修正同期；
15)能用盒維數(shù)法自動(dòng)測(cè)根系分形維數(shù)生產效率；
16)能進(jìn)行根的分叉裁剪使命責任、合并、連接等修正使用，修正操作能回退合規意識，以快速獲得100%正確的結(jié)果。精度：根長(zhǎng)≤±1%有效性；面積：圖像質(zhì)量時(shí)<1%創新內容，標(biāo)準(zhǔn)圖像質(zhì)量時(shí)≤3%；
17)匹配專門的雙光源照明系統(tǒng)廣泛關註，提供高分辨率的彩色或黑白圖像善於監督，去除了陰影和不均勻現(xiàn)象的影響，有效保證圖像質(zhì)量就能壓製；
18)采用非統(tǒng)計(jì)學(xué)方法測(cè)量計(jì)算出交叉重疊部分根系長(zhǎng)度等更合理，可保存或讀取TIFF、BMP更優美、PNG各方面、JPEG、PCX標(biāo)準(zhǔn)格式的圖像優勢。
19)可兼做針葉面積善謀新篇、體積測(cè)量，以及棉纖維粗細(xì)便利性、長(zhǎng)度測(cè)量方法。
2、人工輔助修正：圖像可放大縮小和局部觀察規模最大，可實(shí)現(xiàn)鼠標(biāo)區(qū)域選擇統(tǒng)計(jì)穩中求進、對(duì)污染區(qū)的輔助裁剪或橡皮擦修正。
3最深厚的底氣、統(tǒng)計(jì)效果監(jiān)視：監(jiān)視和修正植物對(duì)象分析的精度。
4振奮起來、自動(dòng)雜質(zhì)剔除：根據(jù)尺寸等方面的區(qū)別品質，進(jìn)行自動(dòng)雜質(zhì)剔除。
5深入各系統、輔助測(cè)量功能：
尺寸標(biāo)定：自帶標(biāo)定功能高效利用，實(shí)現(xiàn)半自動(dòng)的尺寸標(biāo)定互動講，XY向可分別標(biāo)定修正；
長(zhǎng)度測(cè)量：具有跟隨放大鏡功能，通過(guò)鼠標(biāo)拖動(dòng)測(cè)量非常激烈；
6、數(shù)據(jù)導(dǎo)出
分析圖像敢於監督、分布圖充分、結(jié)果數(shù)據(jù)可保存科技實力，分析結(jié)果輸出至Excel表，可輸出分析標(biāo)記圖MHY-28099型植物根系分析儀系統(tǒng)標(biāo)配光學(xué)分辨率4800×9600建設、A4加長(zhǎng)的Microtek ScanMaker i800雙光源彩色掃描儀在此基礎上，zui大分析測(cè)量面積：反射稿為A4加長(zhǎng)幅面(35.6 cm×21.6 cm)，掃描根面積30 cm×20 cm前來體驗，可分辨的zui小尺寸0.008 ×0.008 mm自主研發。植物圖像分析測(cè)量精度(由掃描儀決定，可軟件部分校正)：X向≤±0.5 %更加廣闊，Y向≤±0.25%損耗；長(zhǎng)度測(cè)量重現(xiàn)性誤差<±0.25%；面積測(cè)量重現(xiàn)性誤差<±0.25%非常完善；臺(tái)間測(cè)量差異<±0.25%積極影響。測(cè)量分析時(shí)間：30~60秒。用戶需另配計(jì)算機(jī)不斷進步。
注：若需大幅面分析工藝技術，請(qǐng)選配：光學(xué)分辨率2400×4800dpi、A3的Microtek Phantom 9900XL plus掃描儀規模。
